Gebraucht JEOL JSM 5500LV #293634854 zu verkaufen
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ID: 293634854
Weinlese: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operation keyboard
RS232C Board
Interface: vacuum, scanning
Adaptment / control unit
Fine coater
Chiller
JED-2201 EDS
EDS Integration
2001 vintage.
JEOL JSM 5500LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das zur Abtastung und Bildgebung von interessanten Stellen auf einer Vielzahl von Proben verwendet wird. Es ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Funktionen für überlegene Leistung. JSM- 5500LV bietet eine beeindruckende Auflösung von 1,5 nm auf die Sekundärelektronen, so dass der Benutzer deutlich sehen Details der Probe auf einem Nanoskala. Zusätzlich erzeugt dieses SEM mit seinem Hochvakuum von 1,2x10-8 Torr überlegene Sekundärelektronenbilder mit minimaler Aufladung oder Probendrift. Der Kern des Instruments ist eine bewegliche SEM-Säule, die in einer magnetisch aufgehängten Kammer gehalten wird und eine stabile Umgebung für die Elektronen bietet. Das System verfügt über eine feldemissionsstimulierte Emissionsdepression (FE-SED) Emissionselektronenquelle, die eine hochauflösende Abbildung und einen hohen Strom für bessere Lumineszenz und Spektroskopie ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht das einzigartige Schnittstellendesign dem Benutzer, das Instrument intuitiv zu bedienen. JEOL JSM 5500LV bietet auch verschiedene Bildoptimierungsparameter, die es dem Benutzer ermöglichen, die Bilder an die Anforderungen der Experimente anzupassen. Der eingebaute Wirbelstromdetektor ermöglicht die Veränderung des Bildkontrasts in interessierenden Bereichen. Die Funktion Bildverschiebungskorrektur ermöglicht die Kompensation von Bühnenbewegung und Drift, während der Auflösungsmodus das Schärfen von Bildern ermöglicht. Schließlich wird JSM 5500LV von JEOL Service Guide unterstützt und bietet kostenlose Ressourcen und Software-Updates. Der Benutzer kann auch aus einer Vielzahl von optionalen Zubehör wie Bildschirme und Rotatoren wählen, um die Effizienz und Leistung des SEM zu maximieren. JEOL JSM 5500LV ist mit seinen Funktionen ein einfach zu bedienendes, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für die schnelle Bildgebung und Automatisierung nanoskaliger Studien eignet.
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