Gebraucht JEOL JSM 5510 LV #293657551 zu verkaufen

ID: 293657551
Scanning Electron Microscope (SEM) SE and BSE Detectors Motorized stage IR Chamberscope Does not include EDS.
JEOL JSM 5510 LV ist ein Rasterelektronenmikroskop für die Abbildung von Oberflächen und Funktionen mit unübertroffener Auflösung und Vergrößerungen bis zu 100.000x. Dieses anspruchsvolle Instrument arbeitet sowohl mit sekundären als auch mit rückgestreuten Elektronen, die durch die Wechselwirkung des Primärelektronenstrahls aus seiner Elektronenquelle mit der untersuchten Probe erzeugt werden. Es ist mit einem hochauflösenden, digitalen Display und einem integrierten Bildgebungssystem zur Bildaufnahme und -analyse ausgestattet. Dieses Rasterelektronenmikroskop (SEM) hat einen großen Vergrößerungsbereich, von 100x bis 100.000x, sowie einen Bereich von Arbeitsabständen für die Probenbeobachtung. Es verfügt auch über einen energiedispersiven Röntgendetektor, der für die Zusammensetzungsanalyse von Proben installiert werden kann. JEOL JSM 5510LV ist mit einer Kaltfeldemissionsquelle (FES) ausgestattet, die einen größeren Bereich von Elektronenstrahlströmen und einen schnelleren Betrieb bereitstellt; Dies verbessert die Leistung des SEM und die Auflösung, die es bieten kann. Zu den fortschrittlichen Merkmalen dieses SEM gehören die automatische Verstärkungsregelung - die die Bildqualität durch automatische Einstellung der Verstärkung in der Abbildungskette erhöht -, die Lasernavigation der Probenkontrolle und ein optionales Probendriftkorrektursystem. Das Gerät ist mit einer großen Vakuumkammer und einem integrierten Schwimmarm ausgestattet, mit dem Proben in einer Vielzahl von Richtungen und Winkeln montiert und positioniert werden können. Dies verbessert die Stabilität der Probe, indem Vibrationen und Stöße beim Scannen bequem absorbiert werden, wodurch die Probenbewegung minimiert und die Abbildungsergebnisse verbessert werden. JSM 5510 LV Rasterelektronenmikroskop ist ein hochentwickeltes Werkzeug zur Untersuchung von nanoskaligen Materialien, Oberflächen und Strukturen. Seine überlegene Auflösung und einzigartige bildgebende Fähigkeiten machen es zu einem wertvollen Kapital in einer Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsbereichen.
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