Gebraucht JEOL JSM 5510 LV #293669766 zu verkaufen

JEOL JSM 5510 LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches bildgebendes und analytisches Instrument, das für den Einsatz in den Bereichen Nanomechanik, Materialwissenschaft, Forensik und Life Sciences entwickelt wurde. Dieses SEM bietet Licht- und Dunkelfeldbildgebung, Sekundärelektronenbildgebung, analytische Fähigkeiten und Vergrößerungen von 50x bis 500.000x. Der 5510 LV ist mit einer fortschrittlichen Elektronenkanone und Strahlsteuerung für optimale Bildqualität und effizienten Betrieb ausgestattet. Es kommt auch mit einem Feld-Emissionen gegengestattete Linse, die für hochauflösende Bildgebung ausgelegt ist. Die fortschrittliche Elektronenkanone erzeugt eine Reihe von Hochspannungsvergrößerungen zwischen 10kV und 40kV. Eine MicroPore Systems Inc. Probenstufe ist ebenfalls enthalten, die eine einfache Probenbeladung und automatisierte Bühnenbetätigung ermöglicht. Der 5510 LV bietet hochempfindliche Sekundärelektronenbildgebung für eine Vielzahl verschiedener Probentypen. Es bietet auch hochauflösende Fern- und Nahfeld-Bildgebungslösungen, die sich ideal für die Untersuchung der Probenzusammensetzung im Nanobereich eignen. Darüber hinaus ist der 5510 LV mit einer Vielzahl fortschrittlicher analytischer Funktionen ausgestattet, darunter Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS), Röntgenfluoreszenz (XRF) und Wellenlängen-Dispersive Röntgenspektroskopie (WDX). Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, Elemente zu identifizieren, die in einer Probe auf einer molekularen Skala vorhanden sind. Schließlich ist der 5510 LV mit einer Vielzahl von Softwaremodulen ausgestattet, darunter EDAX EDS, FEI EDS, FEI XRF, FEI WDX und Automated Stage Scanning (ASS) für eine effiziente und zuverlässige Bild- und Analysesammlung. Mit diesen fortschrittlichen Softwarepaketen können Anwender problemlos hochauflösende Bilder erstellen und ihre Proben schnell analysieren. Der 5510 LV ist auch in der Lage, sich an eine Vielzahl von Benutzeranforderungen anzupassen, so dass Benutzer ihr SEM für verschiedene Arten von Experimenten und Anwendungen anpassen können.