Gebraucht JEOL JSM 5510 LV #293671432 zu verkaufen

JEOL JSM 5510 LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Es hat eine variable Druck und Niederspannung Feldemissionskanone (FEG) Quelle für erhöhte chemische und physikalische Leistung, während auch bietet eine breite Palette von variablen Druckfähigkeit und höhere Bildauflösungen. Dies macht es zu einem idealen Instrument für die SEM-Analyse und die Materialcharakterisierung für Bereiche wie Biologie, Halbleiter, Materialwissenschaft und mehr. Die Elektronenquelle für JEOL JSM 5510LV ist eine Niederspannung FEG, die eine reduzierte Ladung und Feldemissionsstrom ermöglicht, die während der Vergrößerungen stabil ist, während eine kurze Beschleunigungsspannung und eine höhere Auflösung bei niedrigen Vergrößerungen zur Verfügung gestellt wird. Diese FEG ermöglicht auch mehrere Strahlkonvergenzwinkel, wodurch mehr Flexibilität bei der Erstellung eines gewünschten Bildes gegeben wird. Die Vakuumkammer und variablen Druck Option hilft auch, Vakuumabbau von Luftdruck zu reduzieren, so dass eine höhere Bildauflösung auch bei sehr hohen Vergrößerungen. Das System verfügt auch über einen großen Energiebereich für Analyse und Bildgebung, von 0,5 keV bis 30 keV, so dass es gut für alle Arten von Bildgebung geeignet ist, von leichten bis schweren Elementen. Mit einem In-Column Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) Detektor können Anwender sowohl qualitative als auch quantitative Analysen für alle Arten von Proben verwenden. Ein Energiefilter in der Säule hilft auch Betreibern bei der Elementaranalyse. Für die Bildgebung und Analyse von biologischen Proben bietet das LV-System JSM 5510 eine SEM (Environmental SEM) -Option. Dieser Modus wurde entwickelt, um die Wasserverdunstung von Proben, die normale SEMs tun, zu minimieren und gleichzeitig hochauflösende Bilder bereitzustellen. Schließlich bietet JSM 5510LV eine breite Palette von Probenvorbereitungsmöglichkeiten für Anwender. Für nasse und trockene Proben steht eine In-Column-Cryo-Fokussierungsoption zur Verfügung, die sicherstellt, dass die maximale Vergrößerung erreicht wird. Eine Reihe von Sputtersystemen wird auch für die Beschichtung und Bildgebung von Proben wie Platin, Gold und Kohlenstoff angeboten. Insgesamt ist JEOL JSM 5510 LV ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das modernste Bildgebungsfunktionen bietet. Sein variabler Druck und seine Niederspannungs-FEG-Quelle ermöglichen klare Bilder bei höheren Vergrößerungen, auch bei nassen und biologischen Proben, während sein breites Spektrum an energiedispersiven und Probenvorbereitungsmöglichkeiten es ideal für eine Reihe von Anwendungen machen.