Gebraucht JEOL JSM 5510 LV #293813780 zu verkaufen

JEOL JSM 5510 LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem im wesentlichen großen Gesichtsfeld von 1,2 Nanometern sowohl in x- als auch in y-Richtung. Es eignet sich gut für die Untersuchung von mittleren bis großen Proben, mit einer Stufenfläche von 15cm x 15 cm und einer maximalen Probenhöhe von 45 mm. Dieses Modell verfügt über einen Hochleistungs-Mikrostrahl mit einer Auflösung von 2 nm im defokussierten Modus. Die Elektronenkanone nimmt eine LaB6 Filament-Elektronenquelle mit einer beschleunigenden Spannung von 10kV an. Die Niederspannungssäule unterstützt auch Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronen gleichzeitig, so dass ein breiteres Anwendungsspektrum möglich ist. JEOL JSM 5510LV verfügt über eine fortschrittliche Geometriekorrektur Ausrüstung entwickelt, um Schwankungen in der Bildqualität zu minimieren, bietet ausgezeichnete bildgebende Fähigkeiten aufgrund des niedrigen Gehalts an Magnetfeld. Dieses System reduziert auch Probenschäden und verbessert die Musterklarheit und Skalierungssicherheit. JSM 5510 LV hat eine 3-stufige Vergrößerungsstufe, die ein Maximum an 3000X mit kompromissloser Bildqualität ermöglicht. Die Magnetfeld-Beleuchtungseinheit bildet einen fokussierten Beleuchtungsbereich kleiner als 10mm, der die Untersuchung von Proben mit Hell/Dunkel-Kontrast ermöglicht. In Bezug auf Sicherheitsmerkmale verfügt die 5510 LV über eine Schleifmaschine, die beim Schleifen der Probe eine statische Entladung eliminiert, und eine Fernbedienung verhindert, dass Bediener in den Strahlengang treten. Es verfügt auch über ein Kühlwasserdurchflussmessgerät, um eine genaue Temperatur- und Flüssigkeitspegelregelung zu ermöglichen. JSM 5510LV Scanning Electron Microscope ist ein leistungsstarkes SEM, entwickelt für optimale Leistung und Genauigkeit. Sein modernes Design und seine fortschrittlichen Funktionen machen es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von der Untersuchung von Miniaturstrukturen bis zur Abbildung großer Strukturkomponenten.