Gebraucht JEOL JSM 5510 LV #9236006 zu verkaufen

ID: 9236006
Weinlese: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 2000 Electron beam type: W-Fillment Manual backup Resolution: 3.5 nm at 30 kV Magnification: 18x (WD48 mm) - x300000 (136 steps) Electron gun: Tungsten hair pin Beam current: 1 pA - 10 nA PC LV Mode: Resolution: 4.5 nm at 30 kV Vaccum: 10-270 pA Accelation voltages: 0.5 - 30 kV 0.5 - 3 kV (100 kV step) 3 - 30 kV (1 kV step) Stages: X Axis: 20 mm Y Axis: 10 mm Z Axis: 43 mm (WD5-48 mm) Tilt Axis: 10±90 Rotation: 360° Display: LCD, 17" SVGA Monitor: IBM PC/AT SDRAM: 64MB Image output: 640 x 480 1280 x 960 Auto function: Auto Contrast and Bright (ACB) Auto focus Auto stigma Vacuum system: Compressor: 1.0 MPa Automatic control Diffusion pump: 100 L / min Pumping speed: 2min 30sec Power supply: 100 VAC Single phase. 2002 vintage.
JEOL JEM 5510 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen und Techniken in der materialwissenschaftlichen und physikalischen Forschung entwickelt wurde. Dieses Modell verwendet eine Wolframfadenkathode, um einen Elektronenstrahl zu emittieren, der zu einer Probe beschleunigt wird. Dies ermöglicht ein hochauflösendes und durchsatzstarkes Bild der Probe. Die Probe wird in eine Vakuumumgebung gebracht, um sicherzustellen, dass keine Luft in den Elektronenstrahl eintritt und ihn stört. JEM 5510 enthält ein eigenes Vakuumsystem, das Druckbedingungen von 5 x 10-7Torr erreichen kann. Der hochauflösende Elektronenstrahl wird über eine 45kV Wolframfadenkathode erzeugt, die zur Abstimmung zwischen hoch- und niederauflösenden Bildern eingestellt werden kann. Mit dem Backscatter-Detektor von JEOL JEM 5510 können Bilder und Filme von der Probe mit einer Auflösung von bis zu 0,5 nm erfasst werden. Darüber hinaus verfügt dieses Modell über einen hochdynamischen Bereichsdetektor, um auch die kleinsten Details des Objekts bis zu einem Angstrom-Niveau zu erfassen. JEM 5510 ist mit einer motorisierten Stufe ausgestattet, um ein automatisiertes Abtasten von Proben zu ermöglichen. Dies ermöglicht ein automatisiertes Punkt-zu-Punkt-Scannen der Probe entlang derselben Ebene mit Leichtigkeit. Der vordefinierte Probenhalter hält eine Probe mit einem Durchmesser von maximal 8,5 cm. Für eine höhere Auflösung bietet JEOL JEM 5510 einen sekundären Elektronendetektor, um einen höheren Kontrast und ein Bild höherer Auflösung zu liefern. Dieser Detektor eignet sich insbesondere für Niedervakuumanwendungen wie die Abbildung einer Probe mit organischen Materialien. Darüber hinaus verhindert das fortschrittliche Design der Emissionsquelle, dass externe Magnetfelder die heikleren Abbildungsanforderungen stören. Das vielseitige Design von JEM 5510 erweitert seine Softwarefunktionen. Dieses Modell verfügt über eine computergesteuerte Benutzeroberfläche, die Zugriff auf verschiedene Bildverarbeitungsmodi sowie Datenverarbeitungsfunktionen ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JEM 5510 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich sowohl für die Klein- als auch für die Hochdurchsatz-Bildgebung eignet. Mit seiner starken Bauqualität, erweiterten Funktionen und beeindruckenden Softwarefunktionen bietet JEM 5510 einen enormen Wert in seiner Preisklasse.
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