Gebraucht JEOL JSM 5510 #9134197 zu verkaufen

JEOL JSM 5510 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer erweiterten Benutzeroberfläche und Bildwiedergabefunktionen. Dieses leistungsstarke SEM bietet ein fortschrittliches Design mit einem erweiterten Sichtfeld, das eine höhere Auflösung als andere Modelle auf dem Markt ermöglicht. Es wird von einer Cold Cathode Field Emission Gun (Co FEG) mit einer 0,4-nm-Punktgröße und einem 1-4 kV-Beschleunigungsspannungsbereich angetrieben, um einen niedrigen Vakuummodus zu ermöglichen, der eine Abbildung und Analyse nicht leitender Materialien ermöglicht. Das Sichtfeld von JSM 5510 ist ein beeindruckendes 12mm bei 40mm Arbeitsabstand, das eine hochvergrößerte Bildgebung und Analyse von Proben mit einer breiten Palette von Größen ermöglicht. Die hochauflösende digitale Farbkamera und Bildverarbeitungsfunktionen des SEM ermöglichen es Benutzern, hochwertige digitale Bilder und Videos zu rendern. Die QuickDepth™ Bildtiefeneinstellung ermöglicht ferner die Erfassung von Daten von großen Objekten und Proben unterschiedlicher Dicke. JEOL JSM 5510 ist auch mit einer einzigartigen Bilderzeugungskammer mit niedrigem Vakuum ausgestattet, die ideale Bedingungen für die Analyse und Abbildung nichtleitender Materialien bietet. Diese Kammer wird von der Hauptvakuumkammer isoliert, um zu verhindern, dass Verunreinigungen in die Probenqualität eindringen und diese beeinträchtigen. Darüber hinaus machen die Hochvakuum-Fähigkeiten von JSM 5510 es ideal für die genaue Analyse und Abbildung von Proben, die einen niedrigen Hintergrunddruck erfordern. JEOL JSM 5510 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop, ideal für Forscher und Wissenschaftler, die hochauflösende Bildgebungs-, Analyse- und Videoaufnahmefunktionen benötigen. Das erweiterte Sichtfeld des SEM ermöglicht eine größere Auflösung als andere Modelle auf dem Markt, während seine hochauflösende Kamera, Bildverarbeitungsfunktionen und QuickDepth-Funktion es Benutzern ermöglicht, atemberaubende Bilder und Videos ihrer Proben zu erfassen. Die Niedervakuum-Abbildungskammer des SEM eignet sich ideal für die Abbildung von nichtleitenden Materialien, während die Hochvakuumfähigkeit dafür sorgt, dass empfindliche Proben frei von Verunreinigungen bleiben. JSM 5510 ist ein leistungsfähiges Bildgebungs- und Analysetool, das jedes Mal außergewöhnliche Ergebnisse liefert.