Gebraucht JEOL JSM 5510 #9151041 zu verkaufen

JEOL JSM 5510 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um die Zusammensetzung, Topographie und Morphologie einer breiten Palette von Materialien zu analysieren. Das Mikroskop ist für die fortschrittliche Charakterisierung von Morphologie, kristallographischer Analyse und Elementaranalyse konzipiert. Es liefert ein großes Sichtfeld - bis zu 10 cm x 10 cm bei einer Vergrößerung von 1.000 mal so groß wie die Originalgröße. Es ist mit einer Wolframfadenquelle für Niederspannungselektronenoptik ausgestattet, die ein optimales Gleichgewicht zwischen Auflösung, Fokustiefe und Empfindlichkeit bietet. Im Zentrum des JSM 5510 steht eine Magnetlinse mit einem Durchmesser von 5 mm (B55) oder 10 mm (C55). Diese Linsen können eingestellt werden, um entweder einen höheren Beugungskontrast oder eine höhere Auflösung zu erzielen. Die Linsen ermöglichen es Elektronen, sich schnell und präzise auf die Probe zu fokussieren und bieten konkurrenzlose Elektronenmikroskopie-Fähigkeiten. Darüber hinaus ist die Probe von einer leistungsstarken elektrostatischen Linse umgeben, um ein detailliertes Bild zu liefern, ohne die räumliche Auflösung oder die Probenintegrität zu beeinträchtigen. JEOL JSM 5510 ist auch in der Lage, eine erweiterte Analyse mit seinem Auto-Proben-Scanner durchzuführen, der die Probe digital mit Elektronen abtastet, um Daten zu erfassen und zu verarbeiten. Das System umfasst einen leistungsfähigen Bildprozessor, um die Daten zu analysieren und zu interpretieren und Bilder mit hoher Präzision und Klarheit zu erstellen. Der Prozessor verfügt auch über eine Auto-Sampling-Funktion, so dass Forscher ihre experimentellen Ergebnisse genau reproduzieren können. Darüber hinaus ist JSM 5510 mit einem ultraempfindlichen digitalen Videosystem und einer digitalen Multi-Format-Kamera ausgestattet. Diese Systeme bieten eine detaillierte Bildgebung, so dass Wissenschaftler eine quantitative Analyse der vom Mikroskop erzeugten Bilder durchführen können. Die Bilder können in beliebig vielen Formaten dargestellt werden, von einfarbig bis 3D. Insgesamt ist JEOL JSM 5510 ein High-End-Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, eine überlegene Auflösung, Topographie und morphologische Analyse bereitzustellen. Es wurde entwickelt, um unübertroffene Leistung in einer Reihe von Anwendungen zu liefern, einschließlich Materialcharakterisierung, Bildgebung und Elementaranalyse.