Gebraucht JEOL JSM 5600LV #293602477 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein branchenführendes bildgebendes Instrument, das beispiellose bildgebende Fähigkeiten zur Analyse und Visualisierung der Oberfläche, Morphologie und chemischen Zusammensetzung von Proben bis zu einer Auflösung von 1 nm liefert. Dieses Modell von SEM enthält ein fortschrittliches Säulendesign, das eine aktive Kompensation der Probenverschiebung bietet und eine 1,2-nm-Hochgenauigkeitsauflösung mit einer schnellen Scangeschwindigkeit von bis zu 100 um/s liefert. Die Säule verfügt auch über einen Fünf-Segment-Spannungsteiler, der spektrale Informationsmöglichkeiten weiter verbessert. Darüber hinaus 5600LV die bildgebenden Fähigkeiten von JSM von einer Kombination von zwei fortschrittlichen Detektoren profitieren, die einen Everhart-Thornley und einen sekundären Elektronendetektionsdetektor umfassen. Der Everhart-Thornley-Detektor ist aufgrund seines hohen Dynamikbereichs hocheffizient bei der Messung höherer Pegel von Elektronensignalen, während der Sekundärelektronendetektor 3-dimensionale topographische Bilder mit ausgezeichneter Empfindlichkeit und ausgezeichneter Fokustiefe liefert. Durch den Einbau dieser beiden Detektoren können JEOL JSM 5600LV Bilder erzeugen, die die Oberflächendetails der Proben präzise darstellen und hervorheben. Wenn sie Proben mit JSM 5600LV scannen, können Benutzer auch aus seinem effizienten „extremen niedrigen Vakuum“ inverter Raumdesign einen Nutzen ziehen. Diese Kammerkonstruktion ermöglicht es, die Probe unter extrem vakuumarmen Bedingungen schnell zu untersuchen, ohne dass eine Vergasung oder Probenverschlechterung eintritt. Darüber hinaus umfasst die Kammer eine optimierte Diagonalstufe, die die Beweglichkeit der Probe verbessert und eine komfortable und präzise Beobachtung der Probe aus verschiedenen Winkeln ermöglicht. Um die Analyse- und Bildgebungsfunktionen von JEOL JSM 5600LV weiter zu optimieren, haben Benutzer auch die Möglichkeit, eines seiner zusätzlichen Zubehörteile einzubauen. Dazu gehören ein energiedispersiver Spektroskopiedetektor, eine Umweltkammer und eine Gaszelle. Der energiedispersive Spektrometer (EDS) -Detektor erfasst Röntgendaten, um eine chemische Analyse der Probe durchzuführen, während die Umgebungskammer Umgebungstemperaturen nachahmt, um die genauesten Abbildungsergebnisse zu erhalten. Zusätzlich kann die Gaszelle periodisch mit einem Edelgas gefüllt werden, um die Probe in geschlossener Umgebung zu untersuchen. Das JSM 5600LV Rasterelektronenmikroskop ist ein hochmodernes bildgebendes Instrument, das ein leistungsstarkes Säulendesign, präzise Detektoren und fortschrittliches Zubehör kombiniert, um präzise und zuverlässige bildgebende Funktionen zu bieten. JEOL JSM 5600LV ist mit seinen branchenführenden bildgebenden Funktionen und seinen vielfältigen Begleitmöglichkeiten die perfekte Wahl für Labor- und Forschungseinstellungen.