Gebraucht JEOL JSM 5600LV #293648302 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die Bildgebung, elementare Zusammensetzung und 3D-Analyse einer Reihe von Probenmaterialien. Es verfügt über eine fortschrittliche Elektronenoptik und eine Unsicherheitsauflösung, die denen herkömmlicher SEMs überlegen ist, was zu hochauflösenden Bildern führt. Auch die gleichzeitige Erfassung mehrerer Bilder ist möglich. Darüber hinaus ermöglicht das 2-Achsen-Goniometer die schnelle und einfache Einstellung der Probenorientierung. JSM 5600LV verfügt über einen sekundären Elektronendetektor mit 3D-Bildgebungsfunktionen, einschließlich digitaler Schattenbildgebung und einer Feldemissionskanone, um die Fokuseinstellung zu optimieren. Zusätzlich kann der Sekundärelektronendetektor mit einem energiedispersiven Röntgendetektor zu bildgebenden und elementaren Zusammensetzungsmessungen kombiniert werden. JEOL JSM 5600LV bietet zudem eine automatisierte Bildverarbeitung und intuitive Benutzeroberflächen. Automatisierte Bildverarbeitungsfunktionen umfassen Kontrasteinstellung, Kantenschärfung, Fehlerübertreibung und -korrektur sowie Bewegungskompensation. Die intuitiven Benutzeroberflächen ermöglichen eine einfache Parameterauswahl und vereinfachte Bearbeitung von Objekten, einschließlich der Möglichkeit, Beschriftungen, Farben und Symbole bestimmten Positionen zuzuweisen. Darüber hinaus stehen eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysewerkzeugen zur Verfügung, von der driftlosen Bildgebung mit hohem Durchsatz bis hin zur Datenmanipulation und -analyse. JSM 5600LV verfügt über einen erweiterten hochauflösenden Modus zur Abbildung kleiner Proben oder zur Erkennung ultra-niedriger Kontrastmerkmale. Dieser Modus verbessert die Bildauflösung und macht ein Bild mit höherem Kontrast auch bei niedriger Beschleunigungsspannung. Der niedrige Beschleunigungsspannungsmodus reduziert auch die Röntgenstrahlung der Probe, wodurch keine Bleiabschirmung erforderlich ist. Darüber hinaus ist das Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Probenhaltern für verschiedene Probengrößen und -formen ausgestattet, einschließlich Proben, die zur einfachen Manipulation auf leitfähigen Stiften montiert sind. JEOL JSM 5600LV bietet automatisierte Partikel- und Volumenmessfunktionen, die eine präzise und zuverlässige quantitative Analyse ermöglichen. Es ist in der Lage, Partikel bis zu einer Größe von 100 Nanometern zu messen und ermöglicht den Vergleich von Partikeln zwischen Proben oder verschiedenen Punkten innerhalb der Probe. Der Dynamikbereich von JSM 5600LV erstreckt sich bis zu 11 Milliarden Zählern pro Sekunde und ermöglicht eine präzise Messung von Eigenschaften mit niedrigem Kontrast. Darüber hinaus bietet es die Möglichkeit, physikalische Eigenschaften der Probe einschließlich Höhen und Breiten, Phasenänderung und lokalisiertes Oberflächenpotential zu messen. Schließlich eignet sich JEOL JSM 5600LV hervorragend zur Abbildung von Nanostrukturmorphologien sowie zum Scannen durch dicke Proben. Es ist eine sehr vielseitige und einfach zu bedienende Mikroskopie-Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Materialwissenschaft bis zur Life Science.