Gebraucht JEOL JSM 5600LV #293661110 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein High-End-Gerät zur Bildgebung und Analyse von Proben bis zum Nanometerspiegel. Es verwendet eine Rasterelektronenkanone und Elektronenoptik, um einen Strahl von hochenergetischen Elektronen zu erzeugen, die dann genau über die Probe gerastert wird. Die Wechselwirkungen der Elektronen mit der Probe erzeugen Signale, die dann detektiert und in ein Bild umgewandelt werden. JSM 5600LV ist ein Niederspannungsinstrument, d.h. es ist für die Verwendung mit niedriger, mittlerer und hoher Vakuumaufnahme konzipiert. Die Ausrüstung wurde entwickelt, um detaillierte Bilder und Analysen einer Vielzahl von Probentypen bereitzustellen, einschließlich metallischer, nichtmetallischer, keramischer, biologischer und organischer Materialien. Es ist mit einer Hochleistungs-Elektronenkanone, fortschrittlicher Signal-zu-Rausch-Elektronik und einer leistungsstarken Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die Elektronen genau auf kleinere Funktionen lenken kann. Das System enthält auch ein erweitertes Softwarepaket zur Datenerfassung, Nachbearbeitung und Bildanzeige. Darüber hinaus ist JEOL JSM 5600LV in der Lage, Bilder und Muster so darzustellen, dass Benutzer sie mit physikalischen Strukturen vergleichen können. Neben der bildgebenden Fähigkeit ist JSM 5600LV auch mit einer Vielzahl von Analysewerkzeugen für die elementare Zusammensetzung und chemische Zustandsanalyse ausgestattet. Dazu gehören unter anderem die Energy-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS), die Wavelength-dispersive Röntgenspektroskopie (WDS), die Auger-Elektronenspektroskopie (AES) und die Secondary Electron Imaging (SEI). Es bietet auch automatisierte Funktionen, wie Mehrfachspektrum-Mittelung und elementares Mapping. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine fortschrittliche Steuerungsmaschine zum Einrichten von Experimenten und zur Steuerung des Werkzeugs. JEOL JSM 5600LV wurde entwickelt, um hochauflösende, vakuumarme SEM-Bildgebung und -analyse mit einem hohen Probendurchsatz und einer einfach zu bedienenden Schnittstelle bereitzustellen. Es ist ein ideales Werkzeug für Materialanalyse, Fehleranalyse und biologische Bildgebung. Der Vermögenswert ist auch für mikrostrukturelle Charakterisierung und Nanotechnologie Anwendungen weit verbreitet.