Gebraucht JEOL JSM 5600LV #293663801 zu verkaufen
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ID: 293663801
Weinlese: 1998
Scanning Electron Microscope (SEM)
Electron source: W
Standard resolution
Standard magnification
Manual stage
Range:
X: 20 mm
Y: 10 mm
Z: 40 mm
Rotate and tilt (Manual)
SE Detector
Retractable BSE detector
(2) JEOL Vacuum pumps
Does not include water chiller
Power conditioning box
Standard probe current
Standard voltage
1998 vintage.
JEOL JSM 5600LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer hohen Auflösung von bis zu 0,3 nm. Es verfügt über einen breiten dynamischen Bereich und erweiterte bildgebende Fähigkeiten, die es für den Einsatz in der Forschung in allen wissenschaftlichen Disziplinen und Ingenieuranwendungen geeignet machen. Das Gerät wird von einer eingebauten Feldemissionsquelle angetrieben, die Elektronen hoher Energie mit geringem Basisstrom und minimaler Störung der Probenoberfläche erzeugt. Die hohe Energie und der kurze Partikelweg sorgen für genaue Ergebnisse mit minimalen Ladeeffekten. Der Bereich der verfügbaren Strahlströme ermöglicht verschiedene Proben und Analysetechniken, von der hochauflösenden Bildgebung bis zur EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) und WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) Analyse. Die Hochleistungsoptik ermöglicht eine Elektronenwellenlänge von 0,06 nm und bietet Auflösung und Vergrößerungen von bis zu 500 kX. Es verfügt auch über eine zweidimensionale Bühnenbewegung mit unabhängigen X- und Y-Achsen zur präzisen Positionierung. JSM 5600LV verfügt über eine Hochvakuumkammer, die einen schnellen Betrieb und schnellen Probenaustausch ermöglicht. JEOL JSM 5600LV ist mit einem digitalen Detektor ausgestattet, der bei Verwendung von 1 × 1 Binning eine hohe Auflösung von 2.048 x 2.048 Pixelerkennungspixeln aufweist. Das System unterstützt die gleichzeitige Abbildung mehrerer Proben, was schnellere Probenzeiten und einen verbesserten Workflow ermöglicht. Die benutzerfreundliche Steuerungssoftware ist einfach zu bedienen und umfasst erweiterte Funktionen zur Datenerfassung und -verarbeitung. Die Software unterstützt die automatische Datenerfassung und Bildmanipulation sowie verschiedene Analysetools. Es ermöglicht auch die 3D-Rekonstruktion aus hochauflösenden Bildern. Darüber hinaus ist JSM 5600LV mit einer Reihe von Zubehör kompatibel, um seine Fähigkeiten zu erweitern; einschließlich FEG (field emission gun) -Quellen, digitale HV-Mikroskope, einziehbare Probenstufen, Fliesenstufen und Probengreif- und Manipulationswerkzeuge. Das Instrument ist zuverlässig und langlebig und bietet eine außergewöhnliche Leistung, die über längere Zeiträume zuverlässige Ergebnisse liefert.
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