Gebraucht JEOL JSM 5600LV #293664532 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das auf dem Gebiet der Materialwissenschaft eingesetzt wird. Es hat eine Vielzahl von erweiterten Funktionen, so dass es ideal für die detaillierte Beobachtung und Analyse einer breiten Palette von Proben. Dieses Mikroskop nutzt eine Elektronenquelle aus Kohlenstofffilament, um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der dann über die Probe gescannt wird, um ein vergrößertes Bild zu erzeugen. JSM 5600LV bietet mehrere Vorteile gegenüber anderen SEMs. Es ist mit einem großen Sichtfeld ausgestattet, das die Beobachtung größerer Proben ermöglicht. Zusätzlich hat es eine maximale Vergrößerung von bis zu 500.000x und eine Abtastrate von bis zu 40 Bildern pro Sekunde und liefert Details, die weit über die eines Lichtmikroskops hinausgehen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Arten von Bildern zu erzeugen, darunter hochwinklige ringförmige Dunkelfeld (HAADF) und großflächige Scannen (LAS). Dies bedeutet, dass es verwendet werden kann, um Kontraste zwischen verschiedenen Abschnitten der Probe oder Bereichen von Interesse zu detektieren, die möglicherweise nicht mit einem Lichtmikroskop sichtbar sind. Das Mikroskop bietet auch eine Vielzahl von Probenvorbereitungstechniken. Es kann zur kryogenen Zubereitung zur Beobachtung fragiler Proben oder zur Abscheidung leitfähiger Dünnschichten verwendet werden. Darüber hinaus ist es auch in der Lage, Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) Analyse durchzuführen. Auf diese Weise können Kristallstrukturen beobachtet, die Korngröße bestimmt und die mechanischen Eigenschaften verschiedener Materialien analysiert werden. Das Mikroskop kann für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen verwendet werden. Es eignet sich ideal zur Abbildung von mikrometergroßen Partikeln oder Strukturen und kann auch zur Analyse von elementaren Zusammensetzungen verwendet werden. Darüber hinaus kann es zur Untersuchung von Mikrostrukturen wie Korngrenzen, Defekten und Morphologien sowie zur Messung der Korngröße verwendet werden. Es wird auch verwendet, um die Morphologie von keramischen Materialien zu analysieren, während sein LAS-Modus das Schmelz- und Kristallisationsverhalten beobachten kann. Schließlich ist JEOL JSM 5600LV ein unglaublich benutzerfreundliches Instrument. Die Bediensoftware des Mikroskops ist intuitiv gestaltet, mit hilfreicher Anleitung und automatischer Bildoptimierung. Dies macht es leicht zu lernen, wie das Mikroskop zu bedienen, auch für diejenigen mit begrenzter Erfahrung. Zusammenfassend ist JSM 5600LV ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop und bietet alle Funktionen, die für eine detaillierte Beobachtung und Analyse für weitreichende Forschungsanwendungen erforderlich sind.