Gebraucht JEOL JSM 5600LV #9005306 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV
ID: 9005306
FE-SEM, with EDX and fine coater.
JEOL JSM 5600LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine beliebte Wahl für industrielle Anwendungen, vor allem aufgrund seiner hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten und präzisen Analysefähigkeiten. Das SEM ist modular aufgebaut und ermöglicht maximale Flexibilität in der Systemkonfiguration. Das 5600LV kann für eine Vielzahl von Aufgaben wie Abtastproben mit niedrigen und hohen Elektronenstrahlenergien verwendet werden. Es kann auch verwendet werden, um Bilder von Proben zwischen 10 und 450 tausendmal zu skalieren. JSM 5600LV verwendet mehrere Stufenfunktionen, einschließlich der variablen Winkel-, Neigungs-, Dreh- und Höhenstufen. Neben diesen Funktionen verfügt JEOL JSM 5600LV über ein variables Druckintervall für Umweltstudien. Die Probe kann für die Analyse unter verschiedenen Regimen, wie Vakuum, Luft, etc. vorbereitet werden. Das eingebaute Gaseinspritzsystem ermöglicht eine genaue Manipulation der Probe während der Bildgebung. JSM 5600LV ist mit einem geladenen gekoppelten Gerät (CCD) ausgestattet, das ausgezeichnete Bildqualität für Proben bei hohen Vergrößerungen bietet. Darüber hinaus ermöglicht der CCD-Detektor eine präzise Messung der Bilder ohne Verlust der Bildauflösung. Das SEM verfügt über eine Elektronenpistole mit einer einstellbaren Beschleunigungsspannung von 1-30kV. Darüber hinaus ist es mit einer Reihe von Linsen ausgestattet, die eine präzise Vergrößerung der Proben vom 10- bis 500000-fachen ermöglichen. Der Multi-Mode-Detektor für JEOL JSM 5600LV wurde entwickelt, um sowohl rückgestreute Elektronen als auch Sekundärelektronen zu erfassen. JSM 5600LV unterstützt eine Vielzahl von Bildinformationen wie 3D-Stigmatbilder, Röntgenaufnahmen und energiedispersive Röntgenanalysen. Das Gerät kann mit automatisierten Probenhaltern und -stufen, automatisierter Bilderfassung und einer Vielzahl von Softwarefunktionen für verschiedene Analyse- und Diagnoseanwendungen ergänzt werden. Abschließend ist JEOL JSM 5600LV ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und vielfältige analytische Fähigkeiten bietet. Seine Fähigkeit, eine Vielzahl von Proben zu verarbeiten und seine Vielseitigkeit macht es zu einer idealen Wahl für industrielle Anwendungen.
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