Gebraucht JEOL JSM 5600LV #9105934 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, eine hochauflösende Abbildung und Analyse von Proben bereitzustellen. Es verwendet ein fortschrittliches elektronenoptisches Design, das eine Kaltfeld-Emissionskanone und eine Kondensatorlinse verwendet, um eine hohe Helligkeit und eine ausgezeichnete Auflösung zu bieten. Das Mikroskop ist mit einer ultrahochauflösenden Schottky Feldemissionskanone ausgestattet, die eine maximale Strahlauflösung von 1,7 nm ermöglicht. Dieses Mikroskop verfügt auch über ein automatisiertes optisches Ausrichtungssystem, das eine automatische Einstellung des Einfallswinkels, Fokus, Astigmatismus und anderer Parameter zur Minimierung der Bildverzerrung und Maximierung der Auflösung ermöglicht. JSM 5600LV verwendet einen ultrastabilen Detektor, um hervorragende Reproduzierbarkeit und Bildstabilität zu gewährleisten. Es ist mit einem 5- Megapixel-rückbeleuchteten ladungsgekoppelten Gerätedetektor (CCD) oder einer komplementären Metall-Oxid-Halbleiter (CMOS) -Kamera ausgestattet, um eine hervorragende Bildgebung zu ermöglichen. Das SEM ist ferner mit einem 5-Segment-Sekundärelektronendetektor für hochauflösende Bildgebung ausgestattet. JEOL JSM 5600LV verfügt über eine breite Palette von analytischen und bildgebenden Funktionen. Dazu gehören elementares Mapping, Phasenanalyse, Nanokompositanalyse, Röntgenspektroskopie und Oberflächenkonturmapping. Es ermöglicht auch die Abbildung im Standard-Scanmodus und im Hochvergrößerungs-Scanmodus. Das Mikroskop ist in der Lage, mikroskopische Merkmale mit Hilfe des Mehrkollektorsystems im Detail zu untersuchen. Das System ermöglicht auch eine automatisierte Säulenbewegung, um schnell und präzise auf alle erforderlichen Mikroskopeinstellungen zugreifen zu können. JSM 5600LV verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche, um die Benutzerinteraktion zu erleichtern. Es verfügt über eine automatische Steuerungsfunktion, die die intuitive Steuerung des Mikroskops vereinfacht. Es ist auch mit einem farbigen LCD-Display für einfache Bildüberwachung und Navigation ausgestattet. Es enthält auch einen externen Steueranschluss, der in der Lage ist, die SEM-Funktionen von einer entfernten Schnittstelle wie einem PC oder Laptop aus zu steuern. JEOL JSM 5600LV ist ein fortschrittliches Analyseinstrument, das sich für eine Vielzahl von Anwendungen eignet. Es ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben bereitzustellen. Es verfügt über eine breite Palette von analytischen und bildgebenden Funktionen, zusammen mit einer intuitiven Benutzeroberfläche für einfache Bedienung. Es ist für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen in vielen Branchen gut geeignet.