Gebraucht JEOL JSM 5600LV #9161455 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende, kontrastreiche topografische Bilder bei Vergrößerungen bis zu 300.000x bereitzustellen. Dieses Instrument ist auf Anwendungen in den Lebenswissenschaften ausgerichtet, mit einer Vielzahl von Merkmalen, die eine präzisere Probenmanipulation und Bildgebung ermöglichen. JSM 5600LV enthält eine Cold Field Emission Gun (CFEG) für stabile Elektronenstrahlen und einen 0,5-nm-Spaltenenergiefilter, um Bildkontrast in nichtleitenden Proben zu erhalten. Die Einbeziehung einer Feldemissionselektronenquelle (FEG) ermöglicht eine noch größere Vergrößerung auf etwa 500.000x. JEOL JSM 5600LV verfügt auch über einen variablen Arbeitsabstandsdetektor mit einem Emissionsstrom von bis zu 50 nA, um eine Vielzahl von Probentypen zu erfassen. Probenhalter auf JSM 5600LV die Manipulation der Probe erleichtern und eine maximale Auflösung während der Bildgebung bieten. Manipulationshalter können in drei Achsen (xyz) manipuliert werden, um die Probe abzubilden, und die Verwendung von automatisierten Bühnensteuerungsfunktionen ermöglicht schnelles Scannen. JEOL JSM 5600LV umfasst auch eine Vielzahl von automatisierten Betriebsmodi. Die automatische Bildaufnahme ermöglicht eine schnelle Abtastung und Bildgebung, während der Echtzeit-Abtastmodus die Bewegung des Elektronenstrahls reduziert, indem Bilder in definierten Bereichen kontinuierlich erfasst werden. JSM 5600LV umfasst auch Funktionen wie automatisierte Fokussteuerung, automatisierte Erkennung von Funktionen und automatisierte Auswahl der gewünschten Funktionen für die Bildgebung. Für die Datenanalyse ermöglicht JEOL JSM 5600LV eine dreidimensionale Analyse von Merkmalen innerhalb einer Probe. Dies geschieht durch Kombination von Bildern aus verschiedenen Winkeln und Überlagerung der Daten. Mit vier Detektoren zur Auswahl können Benutzer sowohl topographische als auch elementare Oberflächenbilder einer Probe erfassen. Darüber hinaus bietet JSM 5600LV eine Vielzahl von Nachbearbeitungsoptionen, einschließlich Kantenverbesserung, Bilddrehung und Skalierung, sowie die Möglichkeit, Beschriftungen, Symbole und andere Anmerkungen zu Bildern hinzuzufügen. JEOL JSM 5600LV ist ein leistungsstarkes und unglaublich vielseitiges Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt über eine Reihe von Optionen, die die Bildgebung und Analyse von Merkmalen auf Proben aus den Lebenswissenschaften erleichtern sollen, und ist mit automatisierten Funktionen ausgestattet, um eine präzise Probenmanipulation und schnelle Bildgebung zu ermöglichen.