Gebraucht JEOL JSM 5600LV #9243690 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für vielseitige Materialien und bildgebende Studien geeignet ist. Es ist ein ultrahochauflösendes Niederspannungs-SEM mit niedrigem Vakuumbetrieb und einem integrierten System, das für In-situ-Studien optimiert ist. JSM 5600LV verfügt über ein vollständig integriertes Umweltsystem für Materialien und bildgebende wissenschaftliche Experimente. Es verfügt über eine Umweltkammer mit unabhängiger Steuerung von Druck, Temperatur und Gas. Dadurch kann der Benutzer die Umgebung und Atmosphäre rund um die Probe ändern, ideal für Untersuchungen von Materialien in ihrer natürlichen Umgebung. JEOL JSM 5600LV ermöglicht es Benutzern, Proben mit höherem Kontrast und Auflösung zu beobachten, dank seiner Niederspannungsfähigkeit und kleinen Punktstrahl. Dies kann die Zeit der Analyse und Bilderfassung verringern, insbesondere bei Prozessen, die sehr temperaturempfindlich sind. Es verfügt auch über ein integriertes, hochmodernes Detektorsystem, das zwei Arten von Detektoren umfasst: einen Sekundärelektronendetektor (SED) und einen bildgebenden Detektor. JSM 5600LV verfügt auch über einen Sekundärelektronendetektor (SED), der zur Erfassung des Signal- und Bildkontrasts verwendet werden kann, und der Detektor hat einen großen Dynamikbereich und ist in der Lage, Bilder mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis zu liefern. Der bildgebende Detektor umfasst einen Everhart-Thornley (ET) SE-Detektor, einen ETB-Detektor und einen Schottky Field Emission (FE) Detektor. Insgesamt ist JEOL JSM 5600LV ein beeindruckendes SEM, ideal für die Beobachtung von Materialien und die bildgebende Wissenschaft. Es verfügt über eine ausgezeichnete Kombination aus Vielseitigkeit und Zubehör für Vor-Ort-Tests und Umgebungstests mit Niederspannungsfähigkeit, kleinem Punktstrahl und integrierten Detektorsystemen. Das macht JSM 5600LV gut geeignet für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Materialforschung bis hin zu bildgebenden Experimenten.