Gebraucht JEOL JSM 5600LV #9314114 zu verkaufen

JEOL JSM 5600LV ist ein Premium-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Bildgebung, Analyse und Charakterisierung von Proben mit Auflösungen im Sub-Angstrom-Niveau. Das Instrument ist mit einem elektrostatischen Hochspannungsobjektiv und einer Hochleistungs-Niederspannungskamera ausgestattet. Die Konstruktion weist eine Kammer mit variablem Druck auf, die sowohl im Nieder- als auch im Hochvakuum arbeiten kann. Dies ermöglicht die Bildgebung und Probenanalyse unter extremen Bedingungen, wodurch der Anwender die optimalen Abbildungsbedingungen bei hoher lateraler Auflösung kontrollieren kann. Das Instrument ist auch mit einem Vier-Quadranten, Vier-Kanal Czerny-Turner Monochromator ausgestattet. Dieses Tool ermöglicht die Abbildung mit einer Vielzahl von elektromagnetischen Signalen, vom Ultraviolett bis zum Infrarot, was eine Vielzahl von analytischen Typen ermöglicht. Strahlleistung und Intensität können auf eine Genauigkeit von einem Prozent eingestellt werden. Es gibt auch einen dreikanaligen Elektronenenergieanalysator, der die Wellenlänge des Elektronenstrahls messen und die Zusammensetzung der Probe identifizieren kann. Die Probenkammer hat eine motorisierte Probenbewegung für einfache Probenbelastung und genaue Positionierung der Probe. Es ist mit einer hohen Beschleunigungsstromversorgung für schnelles Scannen und eine kurze Scanzeit ausgestattet. JSM 5600LV ist sowohl für hochauflösende Bildgebung als auch für Hochgeschwindigkeitsbildgebung geeignet. Das System verfügt über ein breites Spektrum an Bildgebungsfunktionen, einschließlich SAR-Sichtfeld (Sampled All-Round) und 3D-Bildgebung (3-Dimensional). JEOL JSM 5600LV Rasterelektronenmikroskop ist auch mit einem Vakuumsystem und einer Ionenstrahl-Abscheidungseinheit (IBDU) ausgestattet. Die IBDU ermöglicht es dem Anwender, funktionelle Dünnschichten wie Oxidschichten und metallische oder nichtmetallische Beschichtungen herzustellen und abzuscheiden. Es kann auch verwendet werden, um Polymere, Halbleiter und andere Materialoberflächen zu erzeugen. Zusätzlich kann es transparente leitfähige Beschichtungen wie Indiumzinnoxid (ITO) abscheiden und strukturieren. Das Instrument bietet fortschrittliche Analysewerkzeuge wie Röntgenanalyse, Partikelanalyse, Reverse Engineering und 3D-Rekonstruktion. Dies ermöglicht ein breites Anwendungsspektrum, von der Materialforschung bis zur Fehleranalyse und Reverse Engineering. Es ist auch ein ideales Werkzeug zur quantitativen Charakterisierung von Oberflächen und Schüttgütern, um zuverlässige Daten für eine genaue Interpretation zu gewährleisten. Insgesamt ist JSM 5600LV ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das auch unter extremen Bedingungen für eine optimale Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Es bietet eine Reihe von Analyse- und Charakterisierungsfunktionen, um eine Vielzahl von Anwendungen und Forschungszwecken zu ermöglichen.