Gebraucht JEOL JSM 5610 #293825628 zu verkaufen

JEOL JSM 5610 Scanning Electron Microscope ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben in Bereichen wie Materialwissenschaft, Biologie, Geologie und industriellen Anwendungen. Das Mikroskop hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 15 kV und kann im Sekundärelektron (SE) -Modus eine Auflösung von bis zu 0,2 nm und im Rückstreuelektronen (BSE) -Modus von 0,05 nm erreichen. JEOL JSM-5610 verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die überlegene Sondenstrom, Stabilität und Helligkeit über Standard-Thermionpistolen bietet. Das Mikroskop ist mit einem automatisierten Probenaustauschsystem ausgestattet, das einen schnellen und einfachen Transport von Proben zur und von der Mikroskopkammer ermöglicht. JSM 5610 verfügt über ein Bildschirmmmusternavigationssystem zur verbesserten Probenbeobachtung und -abtastung. Das Bildschirmnavigationssystem ermöglicht eine schnelle, interaktive Probennavigation ohne x-y-Einstellknöpfe. SE- und BSE-Detektoren werden verwendet, um Bilder im Sekundär- bzw. Rückstreumodus zu erfassen. Die SE-Bildgebung eignet sich gut zur Abbildung organischer und nichtleitender Proben, während die BSE-Bildgebung zur Abbildung von Körnern in nichtkristallinen Materialien, Korngrenzen und inneren Strukturen kristalliner Materialien nützlich ist. Neben der Bildgebung ist JSM-5610 mit vier EDS-Detektoren für die Elementaranalyse der Probe ausgestattet. Die Punktsonden haben eine Punktgröße von weniger als 1 µm und geben genaue Analysen der Elementarkonzentrationen mit ausgerüsteten Filtern, was dem Bediener eine hohe Kontrolle über die Analyse gibt. Das Mikroskop kann auch in hochauflösenden analytischen Modi wie STEM (Scanning Transmission Electron Microscope) verwendet werden und bietet Bildauflösungen bis zu 0,05 nm. JEOL JSM 5610 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von vielseitigen Funktionen und leistungsstarker Leistung. Mit hochauflösenden Bildgebungs- und Elementaranalysefunktionen und einer Reihe fortschrittlicher benutzerfreundlicher Software bietet JEOL JSM-5610 eine vielseitige und leistungsstarke Plattform für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben.