Gebraucht JEOL JSM 5610 #9008606 zu verkaufen

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ID: 9008606
Weinlese: 2002
Scanning electron microscope Resolution (high vacuum mode): 3.5nm (3.5nm@Acc.volt30kv,WD6mm) Accelerating voltage: x0.5 to 30kV (53 steps) Images: SEI, BEI (COMPO, TOPO, Shadow) Magnification: 18(18x@WD48)x to 300,000x (in 136 steps) Specimen size: less than 6" Specimen stage: Eucentric goniometer X: 80mm Y: 40mm Z: 5 to 48mm Tilt: -10° to 90° Rotation: 360° Electron gun: W filament Gun bias: automatically settable for all accelerating voltages Image shift: +12 micrometer or -12 micrometer Displayed image: 640 x 480 pixels(640×480, 1280×960pixels) Analytical functions: OXFORD ISIS EDS system Detectable element range: 5B to 92U Backscatter EDS 2002 vintage.
JEOL JSM 5610 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochentwickeltes bildgebendes und analytisches Instrument, das in einer Vielzahl von Forschungsbereichen verwendet wird. Es ermöglicht dem Benutzer, die interne Struktur und Oberflächenzusammensetzung von Proben mit detaillierter Auflösung und Genauigkeit zu beobachten. JEOL JSM-5610 arbeitet mit einer Elektronenstrahlsäule-Architektur, die aus Elektronenkanone, Beschleunigungssäule, Elektromagnetoptik und Detektoren besteht. Es ist mit einer Wolfram-Filament-Elektronenkanone ausgestattet, die Elektronen auf eine vorbestimmte Energie beschleunigt. Die Elektronen werden dann durch elektrostatische Linsen fokussiert, was eine hochauflösende Abbildung der Probe ermöglicht. Hochauflösende Bilder von Proben können bei verschiedenen Vergrößerungen im Bereich von x5 bis x500.000 erhalten werden. Die Beschleunigungsspannung von JSM 5610 ist von 0.2kV zu 30kV variabel und ermöglicht eine eingehende Analyse von Proben unterschiedlicher Dicke. JSM-5610 Rasterelektronenmikroskop ist auch in der Lage, eine energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) von Proben durchzuführen. Das EDX-System ist mit der Elektronenkanone gekoppelt und liefert dem Anwender eine elementare Identifikation der in der Probe vorhandenen Elemente. Darüber hinaus ist JEOL JSM 5610 mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, die eine Sammlung von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und übertragenen Elektronen ermöglichen und dem Benutzer wertvolle Informationen über die Oberflächentopographie der Probe liefern. Die Detektoren ermöglichen es dem Anwender auch, kompositorische und topographische Karten von Proben zu erhalten, die weiter für eine vertiefte Materialanalyse und -charakterisierung verwendet werden können. Insgesamt ist JEOL JSM-5610 ein leistungsstarkes Instrument, das dem Anwender eine hohe Präzision und Genauigkeit bei der Bildgebung und Analyse von Proben bietet. Es ist mit modernsten Funktionen und Technologien ausgestattet, die den Benutzer mit Einfachheit und Komfort erleichtern. Das Rasterelektronenmikroskop JSM 5610 ist für Forschungsinstitute und Industrielabore sehr empfehlenswert, in denen fortschrittliche bildgebende und analytische Fähigkeiten erforderlich sind.
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