Gebraucht JEOL JSM 5610LV #9259734 zu verkaufen

JEOL JSM 5610LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein variables Drucksystem verwendet, um hochauflösende Bilder kleiner Proben zu ermöglichen. Das Gerät ermöglicht es dem Anwender, Proben mit unterschiedlichen Vergrößerungs- und Auflösungsgraden zu betrachten und bietet zudem einen Niederspannungsbereich (35-2.000 V), der zu seiner Vielseitigkeit beiträgt. Für die hochauflösende Bildgebung ist das Mikroskop mit einem Oxford Instruments IX35 X-MAXN-Energie-dispersiven Röntgendetektor ausgestattet, der fast sofort eine elementare Abbildung und eine energiefilterte Abbildung von Proben ermöglicht. Es hat eine integrierte Stufe Neigung Spezifikation von + 30/-30 ° und eine Bühnenlänge von 80mm. Darüber hinaus ist das Instrument so konzipiert, dass es eine einfache Wartung und einen einfachen Zugang zum Bediener ermöglicht. Hinsichtlich der bildgebenden Fähigkeiten ist JSM 5610LV in der Lage, bildgebende Auflösungen von 1 nm mit einem 5-nm-Gesichtsfeld im Sekundärelektron (SE) zu erzeugen. Darüber hinaus ist es in der Lage, bildgebende Auflösungen zwischen 5-10nm mit einem 14nm-Gesichtsfeld im rückgestreuten Elektronen- (BSE) -Modus bereitzustellen. Neben der Bilderfassung bietet das Mikroskop auch eine automatisierte Merkmalserkennung für Partikelerkennungs- und Partikelzählaufgaben. Das Instrument wird sowohl mit einem Ethernet-Anschluss als auch mit einem eigenständigen Systemmodus betrieben, sodass der Benutzer verschiedene Parameter wie Spannung, Verweildauer, Anzeigehelligkeit und Kontrast einstellen kann. Darüber hinaus kann der Anwender mit der automatisierten Bilderfassungs- und Steuerungssoftware automatisierte Bildgebungsprotokolle einrichten. Diese Software bietet auch Optionen für flexible Nachbearbeitung, die es Benutzern ermöglicht, Daten zu manipulieren und Bilder zur Überprüfung zu exportieren. Insgesamt ist JEOL JSM 5610LV ein leistungsstarkes und vielseitiges SEM, das eine hochauflösende Bildgebung und eine breite Palette von bildgebenden Funktionen bieten kann. Darüber hinaus eignen sich die verschiedenen Merkmale für eine Vielzahl von Anwendungen wie Materialanalyse, Forschung und Qualitätskontrolle.