Gebraucht JEOL JSM 5800 #9175177 zu verkaufen
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ID: 9175177
Weinlese: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM)
Big chamber
LAB 6 Gun
1997 vintage.
JEOL JSM 5800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Präzisionsanalyse der Oberflächentopographie, Zusammensetzung und chemischen Bindung von Materialien. Dieses Instrument wird hauptsächlich in Forschungsanwendungen sowie industriellen Anwendungen wie Fehleranalyse, Qualitätskontrolle und Prozesskontrolle eingesetzt. JEOL JSM-5800 verfügt über eine hochauflösende Wolfram Filament Elektronenkanone, die Proben bis zu 500,000X vergrößern kann. Diese Pistole kann einen präzise fokussierten Elektronenstrahl in einem Bereich von hochenergetischen Auflösungen erzeugen, der je nach Proben- und Abbildungsanforderungen variiert werden kann. Was die Punkt-und-Schuss-Abbildung betrifft, so ist die Elektronenkanone in der Lage, über das gesamte Sichtfeld ein variables Blickfeld mit einer sehr gleichmäßigen Bildauflösung zu erzeugen. Eine zweite Hauptkomponente des Instruments ist das digitale Abbildungssystem. Es besteht aus einer optischen Anordnung von Linsen, die eine variable Steuerung der Abbildungsparameter wie Vergrößerung, Auflösung, Sichtfeld und Kontrast ermöglicht. Das System verfügt auch über einen integrierten Kamerakopf, um die resultierenden Bilder zu erfassen. Zur Durchführung von Analysen der Probe ist das Instrument mit einem integrierten EDS-Detektor (Energy Dispersive Spectroscopy) ausgestattet, der die relative Fülle von Elementen in einer Probe bestimmen kann. Diese Eigenschaft macht JSM 5800 zu einem idealen Instrument für die Oberflächenanalyse von Mikrostrukturen, Zusammensetzungsreinheit und struktureller Integrität. Schließlich ermöglichen die hochpräzisen Kipp- und Drehstufen des Instruments eine einfache und präzise Handhabung größerer Proben, selbst bei einer Größe von mehreren Zentimetern. Dies ist einer der wichtigsten Vorteile von JEOL JSM 5800, da es die Positionierung von Proben mit einer viel höheren Genauigkeit als herkömmliche SEMs ermöglicht. Zusammenfassend ist JSM-5800 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Merkmalen und Fähigkeiten, die es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet machen, von der Oberflächentopographieanalyse bis hin zu kompositorischen und strukturellen Tests. Die hochauflösende Wolfram-Elektronenkanone, das digitale Bildgebungssystem, die energiedispersive Spektroskopie und die Präzisionsrotationsstufen machen es zu einer ausgezeichneten Wahl sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen.
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