Gebraucht JEOL JSM 5800 #9189494 zu verkaufen

JEOL JSM 5800 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Analysewerkzeug für die Bildgebung und Elementaranalyse. Es verfügt über eine leistungsstarke Hochtreue-Feld Emission Elektronenquelle, die es hoch empfindlich auf Unterschiede in der Probe morphologischen Detail macht. Es hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV und einen maximalen Taststrom von bis zu 100 nA. JEOL JSM-5800 verfügt zudem über eine umfassende Palette benutzerfreundlicher Softwarepakete, einschließlich JEOL- LaB6-Messung, die genaue Messungen sowohl der Topographie als auch der kompositorischen Informationen ermöglicht. Die optische Haupteinrichtung des Mikroskops besteht aus zwei beweglichen Elementen, die einen parallelen Elektronenstrahl von der Quelle zur Probe erzeugen. Die Diagonalsymmetrie seiner Elektronenoptik sorgt für eine verbesserte Bildauflösung und ein größeres Sichtfeld. Sein einstellbarer Strahldurchmesser kann von 1-500 Nanometer reichen und es kann verwendet werden, um auch die kleinsten Unterschiede in der Materialzusammensetzung zu identifizieren. Sein Sekundärelektronendetektor kann zwischen Materialien mit unterschiedlichen Ordnungszahlen unterscheiden und eignet sich somit perfekt zur Identifizierung von Elementen innerhalb einer Probe. Das fortschrittliche Design von JSM 5800 ermöglicht es Benutzern, mehrere Detektorsysteme auszuwählen und umzuschalten, um die Analyse von Proben mit einer Reihe von Eigenschaften zu optimieren. Sein Core-Shell-Detektorsystem ist in der Lage, sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronen zu detektieren. Das Mikroskop wird auch mit der neuen MicroChemical Analysis Unit geliefert, die eine semiautomatisierte chemische Analyse mit einer Auflösung von bis zu 1 μ m ermöglicht. JSM-5800 kommt mit einem hochempfindlichen energiedispersiven Röntgendetektor, der für die Elementaranalyse verwendet werden kann. Die eingebauten Abbildungsfilter ermöglichen auch einen erhöhten Kontrast zwischen verschiedenen Mikroskopiebildern. Schließlich bieten die automatisierte Probenstufe und die Computersteuerungsautomatisierung der Maschine eine schnelle und präzise Probenpositionierung, die die hochauflösenden Bildgebungsfunktionen des Mikroskops ergänzt.