Gebraucht JEOL JSM 5800 #9219589 zu verkaufen

JEOL JSM 5800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende Bildgebung und Materialanalyse entwickelt wurde. Es verwendet einen Elektronenstrahl, um ein Bild zu erzeugen, indem Sekundärelektronen oder rückgestreute Elektronen (BSE), die von der Probe emittiert werden, detektiert werden. Die hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten des SEM ermöglichen die Beobachtung verschiedener Morphologien, Strukturen und sogar der elementaren Zusammensetzung einer Probe. JEOL JSM-5800 ist mit einer 5-Meter-Druckkammer ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, Proben in einer Reihe von Partikeldichten zu beobachten. Die Niedertemperatur-Elektronenquelle verhindert Probenschäden unter Beibehaltung von Bildklarheit und Auflösung. JSM 5800 ist mit einem fortschrittlichen Elektronenoptiksystem ausgestattet, das ein Vorfeld und eine Feldkorrekturspule, eine Aperturkohärenz und eine Vorgaskondensatorlinse umfasst. Diese Komponenten verbessern die Bildauflösung und den Kontrast. Darüber hinaus verfügt das System über einen In-Linsen-Detektor, der eine energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) ermöglicht. Auf diese Weise können Benutzer die Probenzusammensetzung auswerten. JSM 5800 verfügt über eine automatisierte Fokusfunktion, die bei der Durchführung schneller und genauer Messungen bei der Beobachtung einer Probe mit variabler Zusammensetzung oder Topographie hilft. Ein In-Column-Energiefilter, gesteuert von einem digitalen Mikroprozessor, hilft, falsche Bildsignale zu reduzieren, die aufgrund von doppelter Streuung und Strahlverschmutzung auftreten können. Dieses Merkmal kann auch verwendet werden, um ein kontrastreiches Bild einer dünnen oder flachen Probe zu erhalten. JEOL JSM 5800 ist auch mit verschiedenen bildgebenden Modi ausgestattet, die die Form, Zusammensetzung und elektrischen Eigenschaften einer Probe analysieren sollen. Der helle und dunkle Bildgebungsmodus verwendet einen 'signalneutralen' Wert, um die topographischen Merkmale einer Probe zu erkennen. Die Vergrößerungs-Bildanalyse-Software wird mit dem Mikroskop geliefert, das eine quantitative Analyse der Pixel eines Bildes ermöglicht. Abschließend ist JSM-5800 Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches Gerät, das in der Lage ist, hochauflösende Bilder bereitzustellen, morphologische Merkmale zu analysieren und elementare Zusammensetzungen einer Probe bereitzustellen. Die Vielseitigkeit und einfache Bedienbarkeit des Mikroskops macht es zu einem nützlichen Werkzeug für viele Anwendungen, insbesondere in der materialwissenschaftlichen Forschung.