Gebraucht JEOL JSM 5800 #9240925 zu verkaufen

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ID: 9240925
Scanning Electron Microscope (SEM) High vacuum Vacuum damaged OXFORD EDS.
JEOL JSM 5800 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Forschungszwecken und industriellen Zwecken verwendet wird. Als High-End-SEM bietet es ein unvergleichliches Maß an Bildqualität und Präzision. Mit seinem Leistungsspektrum ist es eine ausgezeichnete Wahl für alle, die genau auf Exemplare schauen müssen. JEOL JSM-5800 hat eine hohe Vergrößerung von bis zu 300.000 Mal. Dies bedeutet, dass es erstaunliche, komplizierte Bilder von selbst den kleinsten Proben nehmen kann. Es verwendet eine speziell entwickelte Elektronenkanone, um einen dicht fokussierten Elektronenstrahl zu erzeugen, der die Probe abtastet. Dies ermöglicht präzise Messungen, wie die Fähigkeit, die Höhe und Form einer einzelnen Nanostruktur zu messen. JSM 5800 ist in der Lage, extrem kleine Signale zu erkennen, so dass es verwendet werden kann, um elektrische Ströme und Widerstandspegel zu überwachen. Es kann auch Hochgeschwindigkeitsbilder der Probe machen, um zu sehen, wie sie auf äußere Reize reagiert. So können Forscher detaillierte Studien zu biologischen, chemischen und physikalischen Prozessen durchführen. JEOL JSM 5800 ist in der Lage, Bilder von nichtleitenden Proben wie organischem Material oder kohlenstoffbasierten Materialien aufzunehmen. Es kann auch Bilder von Oberflächen aufnehmen, die sehr rau oder sehr dünn sind. Dies macht es nützlich für die Forschung in Bereichen wie Nanotechnologie, Halbleiterbauelemente und Materialwissenschaft. JSM-5800 ist ein äußerst leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung von Proben auf mikroskopischer Ebene. Seine hohe Vergrößerung und sein kleines Sichtfeld machen es besonders nützlich für das Studium von Nanostrukturen und winzigen Proben. Es hat auch eine Reihe von Funktionen, die es vielseitig genug machen, um eine Vielzahl von Proben zu studieren. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für alle, die eine breite Palette von Proben genau betrachten müssen.
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