Gebraucht JEOL JSM 5800 #9243695 zu verkaufen

JEOL JSM 5800 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das überlegene bildgebende Fähigkeiten für Forschung und wissenschaftliche Anwendungen bietet. Dieses Mikroskop verwendet einen ultraempfindlichen Sekundärelektronendetektor, um eine breite Palette von Details aus Proben zu erfassen, so dass Benutzer detaillierte Bilder von schwer erkennbaren Merkmalen erfassen können. Es verfügt über eine flexible Waffenausrichtung, eine hohe Beschleunigungsspannung und eine ultrahohe Auflösung von bis zu 0,15 nm. JEOL JSM-5800 ist in der Lage, Funktionen bis in den Nanometerbereich abzubilden, was selbst bei kleinsten Proben erstaunliche Details ermöglicht. JSM 5800 ist mit zwei Detektoren ausgestattet, darunter einem Sekundärelektronendetektor (SED) und einem In-Lens-Backscatter-Detektor (BSD). Die SED bietet eine verbesserte Detailgenauigkeit und Auflösung bei maximaler Vergrößerung der 150000X. Die BSD kann gesendete und rückgestreute Elektronen detektieren, was für Anwendungen wie Elementaranalysen von Vorteil ist. Beide Detektoren haben eine Vielzahl von Anpassungen, so dass Benutzer sie für ihre Anwendung anpassen können. Zusätzlich zu den Detektoren verfügt die JSM 5800 auch über ein einstellbares Waffenausrichtungssystem, mit dem der Elektronenstrahl an der zu untersuchenden Probe ausgerichtet werden kann. Dies hilft, Fehler und Artefakte zu reduzieren, die durch unvollkommene Ausrichtung verursacht werden, was es für eine präzise Bildgebung wesentlich macht. Das Mikroskop weist außerdem eine einstellbare Beschleunigungsspannung auf, die zwischen 0,5 und 30.0kV einstellbar ist. Dadurch können Proben mit unterschiedlichen Eigenschaften, wie biologische Proben und Halbleitermaterialien, abgebildet werden. JSM-5800 enthält auch eine automatisierte Merkmalserkennungseinheit, die die Probenanalyse erleichtert. Diese Maschine verwendet maschinelle Lerntechnologie, um verschiedene Merkmale innerhalb einer Probe zu erkennen und zu unterscheiden, wodurch die für die Bildgebung und Analyse erforderliche Zeit reduziert wird. Schließlich ist das Mikroskop auch mit einem ausgeklügelten Steuerwerkzeug ausgestattet, mit dem Anwender das Instrument einfach konfigurieren und bedienen können. Insgesamt ist JEOL JSM 5800 ein extrem leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das überlegene bildgebende Fähigkeiten und Funktionen für eine Vielzahl von Forschungs- und wissenschaftlichen Anwendungen bietet. JEOL JSM 5800 ist mit seinen fortschrittlichen Detektoren, der justierbaren Waffenausrichtung, der einstellbaren Beschleunigungsspannung, dem automatisierten Merkmalserkennungsmodell und der ausgeklügelten Steuerungsausrüstung ein unschätzbares Werkzeug für Wissenschaftler und Forscher.