Gebraucht JEOL JSM 5800 #9393561 zu verkaufen
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ID: 9393561
Weinlese: 1996
Scanning Electron Microscope (SEM)
IXRF 550i EDS
SEM Keyboard
Joystick driven stage
Diffusion and roughing pumps
Qual and quant ED programs
Digital imaging and line scanning
Elemental dot mapping
Phase analysis
Cathodes: Lab6 with filament
Imaging detectors: SEI and BEI
PC
Operating system: Windows
Stage: Large chamber with port
Current: Maximum 30 A
Power: Maximum 3.0 kVA
Frequency: 50/60 Hz
Starting current: Maximum 70 A
Ground resistance: Maximum 100 Ω
Voltage: 100 ±10V
1996 vintage.
JEOL JSM 5800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für Industrie- als auch für Life-Science-Forscher entwickelt wurde. Es verfügt über erweiterte bildgebende Funktionen sowohl für Standard-Oberflächentopographie als auch für hochauflösende Bildgebung, die eine genaue Abbildung von Proben bis hin zu Nanometerskalen ermöglicht. Das Instrument verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, wie einen ultraempfindlichen Elektronendetektor, eine stets einsatzbereite Spalte, digitale Bildverarbeitung, Filmaufzeichnung sowie Video- und digitale Bildspeicherung. JEOL JSM-5800 ist mit einer Reihe fortschrittlicher bildgebender Funktionen konzipiert, darunter digitale Kontrastbilder, echte dreidimensionale Bildgebung und sekundäre Elektronenbildgebung. Diese bildgebenden Funktionen werden mit einer leistungsstarken Elektronenkanone unterstützt, die in der Lage ist, Spannungsausgänge von 3-200KV zu erzeugen, sowie eine breite Palette von digitalen bildgebenden Modi und Softwarepaketen. Das Instrument hat auch die Fähigkeit, die Probe um 360 ° zu drehen, so dass der Benutzer detaillierte Bilder aus den verschiedenen Winkeln und Seiten der Probe erhalten kann. Die JSM 5800 verfügt außerdem über eine immer bereit stehende Säule und einen Elektronenstrahl für Umgebungsabtastung, der in rauen Umgebungen betrieben werden kann und eine Reihe von industriellen Anwendungen ermöglicht. Für Life-Science-Forscher umfasst JEOL JSM 5800 eine Integration mit einer Reihe von Zubehörteilen, darunter Kaltkathoden-Ionendetektoren und Ultrahochvakuumsysteme. Dies ermöglicht eine breite Palette von bildgebenden Techniken, wie differentielle Kontrastbilder, elementare Abbildung und automatisierte FIB-SEM (fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopie). JSM-5800 ist ein einfach zu bedienendes Instrument mit multifunktionaler Steuerung und benutzerfreundlichem Touchscreen, der einen schnellen und effizienten Betrieb ermöglicht. Mit diesem System kann der Benutzer schnell auf die gewünschten Funktionen zugreifen und die gescannten Bilder manipulieren. Darüber hinaus umfasst das Instrument eine Reihe von Nachbearbeitungs- und Analyseanwendungen sowie Video- und digitale Bildspeicherung und ist somit ideal für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen. Insgesamt ist JSM 5800 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine Reihe von Funktionen bietet, von fortgeschrittenen Bildgebungsfunktionen bis zu einem einfach zu bedienenden multifunktionalen Steuersystem und Umgebungsscanner-Fähigkeit. Die Kombination dieser Merkmale macht das Instrument für eine breite Palette von industriellen und wissenschaftlichen Anwendungen geeignet.
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