Gebraucht JEOL JSM 5800LV #293586819 zu verkaufen

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ID: 293586819
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Detector OXFORD INSTRUMENTS AZtec SSD Detector: 80 mm².
JEOL JSM 5800LV ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende bildgebende Funktionen für Materialwissenschaften und Festkörperelektronik-Anwendungen bietet. Es ist mit einer hochauflösenden Feldemissionselektronenquelle und einem kalten Probenhalter ausgestattet, der extrem niedrige Probentemperaturen für eine verbesserte Auflösung ermöglicht. Der energiereiche Elektronenstrahl von JEOL JSM 5800 LV ermöglicht eine Hochdurchsatz-Abbildung unterschiedlichster Materialien. Es hat eine große Schärfentiefe und kann strukturelle Merkmale von der Nanoskala bis zur Mikroskala abbilden. JSM 5800LV verfügt über eine große Vakuumkammer, die entworfen ist, um Proben von bis zu 175 mm Durchmesser oder größer mit der optionalen Größe Umschlag aufzunehmen. Es ist mit einer Dual-TV-Kameraausrüstung für Feinfokus- und Vergrößerungssteuerung ausgestattet, die mit einem Monitor zur einfachen Anzeige von Bildern verbunden ist. Zusätzlich ermöglicht die große Kammer die gleichzeitige Abbildung von bis zu drei Proben mit einer Overlay-Funktion. JSM 5800 LV verfügt zudem über ein integriertes Datenerfassungs- und Analysesystem, mit dem Elektronenmikroskopbilder in Echtzeit aufgezeichnet und analysiert werden können. Das Gerät verfügt über eine leistungsstarke Bildanalyse-Maschine, die eine automatisierte Bildverarbeitung, Datenanalyse und quantitative Messungen ermöglicht. Das integrierte Tool verfügt zudem über spezielle Software zur 3D-Rekonstruktion von Probenbildern und Beugungsdaten. JSM 5800LV ist ein vielseitiges SEM, das entwickelt wurde, um hochauflösende bildgebende Funktionen für Materialwissenschaften und elektronische Festkörperanwendungen bereitzustellen. Die Kombination aus fortschrittlicher Hardware und Software ermöglicht es Benutzern, hochauflösende Bilder von Materialien und Geräten auf nanoskaliger Ebene zu erhalten. Die große Vakuumkammer und die integrierte Datenerfassung/-analyse machen sie betrieblich zu einem effizienten und zuverlässigen Werkzeug. Darüber hinaus ermöglicht der Niedertemperatur-Probenhalter Benutzern, eine Vielzahl von Materialien in sehr hohen Auflösungen abzubilden, was für viele materialwissenschaftliche Anwendungen unerlässlich ist.
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