Gebraucht JEOL JSM 5800LV #293760985 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes, zuverlässiges Instrument, das für eine Reihe wissenschaftlicher Erkundungen verwendet wird. Es handelt sich um ein Hochleistungsgerät, das für eine Vielzahl von Materialien wie Polymere, Keramik, Metalle und Halbleiter geeignet ist. Es eignet sich besonders gut zum Nachweis der Oberflächenstrukturen von Materialien mit Submikron- oder sogar Nanometerauflösung. JEOL JSM 5800 LV ist mit einer Reihe von Funktionen und Funktionen ausgestattet, um dem Benutzer das beste Leistungsniveau zu bieten. Erstens verfügt es über ein variables Druckgerät, um Probenschäden durch Elektronen, die während des Betriebs mit der Atmosphäre interagieren, zu verhindern. Zweitens verfügt es über ein fortschrittliches Elektronendetektionssystem, bekannt als Backscattered Detection Unit (BDS), das einen breiten Dynamikbereich von bis zu zwei Größenordnungen ermöglicht. Diese Maschine ermöglicht aufgrund ihrer Empfindlichkeit auch die digitale Bildgebung jeder Probe. Der SEM-Scanner von JSM 5800LV ermöglicht zudem eine einfache Bedienung und bietet eine hervorragende Bildauflösung. Seine Strahlbeschleunigungsspannungen werden an 1.5kV und 2.5kV optimiert und sein Abtastbereich deckt bis zu 45kV mit einer maximalen Auflösung von 1,3 nm (0,13 µm) ab. Seine Bühne ist motorisiert und verfügt über einen beweglichen Probenhalter, der schnelle und einfache Bewegungen entlang der x-, y- und z-Achse ermöglicht. Das Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) -Werkzeug des JSM 5800 LV ermöglicht die elementare Analyse von Proben. Es ermöglicht dem Benutzer, ein Spektrum aus der gesamten Probe zu sammeln, sowie Point Mapping. Darüber hinaus bietet das Gerät eine Vielzahl von Bildkorrekturen, die den Kontrast, die Helligkeit und die Abtasttiefe des Bildes verbessern sollen. Darüber hinaus ist JSM 5800LV unter Berücksichtigung von Sicherheitsaspekten konzipiert. Sein Röntgenerkennungsgerät und sein Ionenschutzmechanismus warnen den Benutzer im Falle einer Gefahr. Das Recyclingmodell verhindert zudem, dass die Probe nicht nur durch hohe Beschleunigungsspannung, sondern auch durch hochenergetische Elektronenstrahlen geschädigt wird. Alles in allem ist JEOL JSM 5800LV Scanning Electron Microscope ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für die Erforschung einer Vielzahl von Materialien. Es ist mit mehreren Funktionen ausgestattet, um eine hervorragende Leistung und Bildauflösung sowie Sicherheitsfunktionen zu bieten, um die Probe und den Benutzer vor Strahlung zu schützen. Es eignet sich besonders zur Abbildung von Oberflächenstrukturen bis zum Nanometerspiegel.