Gebraucht JEOL JSM 5800LV #293776083 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV scanning electron microscope (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes Instrument zur Analyse einer Vielzahl von Materialien. Ausgestattet mit einer Multi-Mode-Säule und variablem Druckmodus bietet dieses SEM eine beeindruckende seitliche Auflösung von 1,0 nm und einen optimalen Arbeitsabstand von 160 mm. Es verfügt auch über einen großen Abfahrtwinkeldetektor und ein Echtzeit-Autotuning-System, das schnelle und genaue Analysen ermöglicht. JEOL JSM 5800 LV ist in der Lage, hochauflösende Bilder von nichtleitenden und leitfähigen Proben sowie bildgebende und messende extrem feine Merkmale zu erhalten. Das Mikroskop verfügt über ein integriertes digitales Abbildungssystem, das einen erhöhten Kontrast und eine automatisierte Bildverarbeitung ermöglicht. Diese Vielseitigkeit macht JSM 5800LV zu einer attraktiven Option für selbst anspruchsvollste Anwendungen. In Bezug auf Probenmanipulation und Vorbereitung wird das SEM mit einem Standardmusterhalter und Vakuumsystemen geliefert. Die automatisierte Stufe des SEM hilft beim schnellen Wechsel zwischen verschiedenen Mustern. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine Heizstufe und eine Kühlstufe, die eine Vielzahl von Probentemperaturuntersuchungen ermöglicht. Der Empfindlichkeitsbereich von JSM 5800LV bietet verbesserte Flexibilität für mehrere Anwendungen. Im Abbildungsmodus hoher Sekundärelektronen ist eine Auflösung auf bis zu 0,5 nm und in niedrigen Sekundärelektronen und im rückstreuenden Elektronenbildmodus noch weniger möglich. Dies ermöglicht einen besseren Einblick in eine Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse, Korngrößen- und Formanalyse und vieles mehr. JEOL JSM 5800LV integrierte Software macht es noch einfacher zu bedienen. Es verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, die beim Zugriff auf leistungsstarke Datenerfassungs- und Analysefunktionen hilft. Darüber hinaus ermöglicht die Software auch die Nachbearbeitung von Daten, die 3D-Rekonstruktion von Bildern und sogar die automatische Segmentierung von Bildern, um Strukturen innerhalb der Probe quantitativ zu messen. Insgesamt ist JSM 5800 LV ein beeindruckendes Rasterelektronenmikroskop, das die Anforderungen jeder Anwendung sicher erfüllt. Mit einer Auflösung von 1,0 nm und einfach zu bedienender Software bietet dieses SEM außergewöhnliche Leistung für eine Vielzahl von Anwendungen.