Gebraucht JEOL JSM 5800LV #293820898 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV
ID: 293820898
Scanning Electron Microscope (SEM) Columns Consoles.
JEOL JSM 5800LV Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches Elektromikroskopie-Tool zur Beobachtung und Analyse von Mikro- und Nanostrukturen. Es arbeitet mit einem Elektronenstrahl, der elektrisch beschleunigt und durch eine Reihe von elektromagnetischen Linsen gerichtet wird, um einen Schnittpunkt auf der Probe zu bilden. Die resultierenden Elektronen verursachen unterschiedliche Arten der Ionisation in der Probe und erzeugen ein Signal, das zur weiteren Analyse detektiert und gemessen wird. JEOL JSM 5800 LV hat eine hohe externe Vakuumkammer, die hohe Vergrößerungen erreichen kann und für eine Vielzahl von Aufgaben wie Bildgebung, Partikelanalyse, Elementarkartierung und sogar Resonanzanalyse konzipiert ist. Dieses Mikroskop verfügt auch über eine breite Palette von Modi und Kontrollen, so dass Benutzer die Strahlparameter entsprechend der gewünschten Anwendung zu verfeinern. JSM 5800LV ist mit drei fortschrittlichen Detektoren ausgestattet, die eine höhere Auflösung und Empfindlichkeit ermöglichen. Diese Detektoren sind in der Lage, mehrere Bilder in einer Vielzahl von Konfigurationen nahtlos zu erfassen, so dass der Benutzer eine ganze Szene anzeigen kann. JSM 5800LV verfügt auch über einen variablen Druckmodus, der es dem Benutzer ermöglicht, den optimalen Vakuumpegel für die auszuführende Aufgabe auszuwählen. Die fortschrittliche In-Vakuum-Optik und die Hochleistungselektronenquelle ermöglichen es dem Mikroskop, kristallklare Bilder mit großer Farbtreue zu erhalten. Dieses System ist auch in der Lage, Bilder mit bis zu 5nm Auflösung zu erzeugen. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM 5800LV über eine automatische Steuerung der Abbildungsparameter des Mikroskops, die konsistente, zuverlässige Bilder ermöglichen. Neben den Bild- und Messfähigkeiten verfügt JSM 5800 LV auch über eine große Auswahl an automatisierten Probentests, Vorbereitungs- und Montagetechniken. Diese Techniken ermöglichen es dem Anwender, schnell eine Reihe von Eigenschaften und Eigenschaften von Mikro- oder Nanostrukturen zu analysieren. Das vielseitige und robuste Design dieses Mikroskops macht es zu einem idealen Werkzeug für eine Vielzahl von Branchen, einschließlich medizinischer Forschung, Halbleiterproduktion und industrieller Entwicklung.
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