Gebraucht JEOL JSM 5800LV #293825915 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV Das Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug zur Erkundung von Materialien vom Nanometer bis zur Mikroskala. Bei dieser Vorrichtung wird ein Elektronenstrahl auf einen kleinen Bereich der Probenprobe fokussiert und von einer Elektronenquelle erzeugt. In JEOL JSM 5800 LV ist die Elektronenquelle ein Feldemittertyp, der zuerst ein elektrisches Feld erzeugt, das Elektronen vom Emitter zur Oberfläche der Probe anzieht. Sobald dies geschieht, regen die Elektronen die Probe an, wodurch sie Elektronen emittiert, die sich dann in Richtung des Detektors bewegen. JSM 5800LV ist mit einem Rückstreuelektronendetektor (BED) ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, Informationen über die Probe in hoher Auflösung zu erhalten. Das BED erkennt Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen, die beide einzigartige Informationen über die Probe enthalten, wie ihre Oberflächentopographie und Elementarzusammensetzung. Die Sekundärelektronen können mit dem von einer Lichtquelle emittierten Licht verglichen und zur Detektion der feinen Oberflächenstruktur der Probe verwendet werden. JSM 5800LV verfügt auch über eine optionale Energy Dispersive Röntgenmikroanalyse (EDX) Ausrüstung, die elementare Zusammensetzung der Probe bietet. Dieses System sammelt Energie aus den charakteristischen Röntgenstrahlen, die entstehen, wenn Elektronen mit Atomen in der Probe interagieren. Die EDX-Einheit analysiert diese Energien und übersetzt sie in eine elementare Zusammensetzung. Das JSM 5800 LV Scanning Electron Microscope ist auch mit einer einfach zu bedienenden Menümaschine ausgestattet, mit der Benutzer die bildgebenden Parameter des Instruments schnell und einfach anpassen können. Der Benutzer kann den Übertragungsstrom, den einfallenden Winkel des Strahls, die Spannung und die Feldgröße feinabstimmen, um die detailliertesten Bilder der Probe zu erfassen. Insgesamt ist JEOL JSM 5800LV ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Funktionen, die es zu einem wertvollen Werkzeug für industrielle und akademische Forschungsanwendungen machen. Seine erweiterten Bildgebungsfunktionen, kombiniert mit seinem benutzerfreundlichen Menüwerkzeug, machen es zur idealen Wahl für nanoskalige Bildgebung.