Gebraucht JEOL JSM 5800LV #9079565 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, eine detaillierte Abbildung einer Vielzahl von Proben bereitzustellen. Das Instrument verwendet Sekundärelektronen (SEs), die durch den Elektronenstrahl erzeugt werden, um hochauflösende Bilder der Oberfläche einer Probe zu erzeugen. Die Hochspannungs-Elektronenkanone ist in der Lage, einen Elektronenstrahl von bis zu 30kV zu erzeugen, und der Detektor ist für die Abbildung von SEs in einem Bereich von 0,5 bis 30kV ausgelegt. Das Mikroskop kann sowohl in hochauflösenden als auch in niedervakuumreichen SEM-Modi betrieben werden, was eine breite Palette von bildgebenden Funktionen ermöglicht. Die Probenkammer ist für Proben verschiedener Größen und For men ausgelegt, mit einer Vakuumkammer, die Drücke bis zu 1,3 x 10-3 Pa. erreichen kann. Die Probenstufe ist mit einem Probenmotor ausgelegt, um den Probenhalter in x-y-z-Richtungen zu bewegen, was eine einfache und genaue Ausrichtung der Probenmerkmale ermöglicht. Die Bühne ist mit Musterspannfunktionen ausgestattet, um sichere Aufnahmen von Probenmerkmalen zu erstellen. JEOL JSM 5800 LV ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Proben zu erzeugen. Die bildgebende Ausrüstung verwendet eine Everhigh-Optik-Säule mit einem 3-stufigen Ablenker, der bildgebende Auflösungen bis zu 1,4 nm in einer Feldgröße von 1,4 mm und eine maximale bildgebende Auflösung von 0,9 nm in einer Feldgröße von 0,4 mm ermöglicht. Das bildgebende System ist auch mit einem proprietären Everhigh „Ultra-HR-Spot“ -Modus ausgestattet, der einen schmalen Beleuchtungsbereich nutzt, um hohe beugungsbegrenzte Auflösungen zu erzielen. Das Mikroskop ist auch mit einer Reihe fortgeschrittener Funktionen ausgestattet, darunter eine Multimodus-Detektoreinheit, eine automatische Analysemaschine, ein Everglow-Detektor und ein „Farb-“ Analysemodus. Das Multi-Mode-Detektor-Tool kann sowohl SE, Backscattered Electrons (BSEs) als auch Röntgenspektren aufzeichnen und ermöglicht eine umfassende Bildgebung und Analyse von Probenmerkmalen. Der Everglow-Detektor beseitigt Bildverzerrungen durch externe Störungen wie Luftströme und ermöglicht eine klare Abbildung hochauflösender Proben. Schließlich ist der „Farbe“ -Analysemodus in der Lage, Farbinformationen aus Beispielbildern zu extrahieren und anzuzeigen, wodurch tiefere Einblicke in die interne Struktur einer Probe gewährt werden. Zusammenfassend ist JSM 5800LV ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das eine Reihe von Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bereitstellen kann. Die High-Speed-Everhigh-Optiksäule und der Multi-Mode-Detektor bieten eine extrem hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben, wodurch Forscher beispiellose Einblicke in ihre Formationen erhalten. Darüber hinaus ermöglichen das Multi-Mode-Detektor-Asset, das automatische Analysemodell und der Farbanalysemodus eine detaillierte Abbildung von Proben bis zum atomaren Niveau.