Gebraucht JEOL JSM 5800LV #9255669 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in verschiedenen wissenschaftlichen Forschungs- und Industrieanwendungen wie Mikroanalyse, Bildgebung und Fehleranalyse entwickelt wurde. Dieses SEM hat eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die schneller und höher auflösende Bilder erzeugt als herkömmliche thermische Emissionselektronenquellen. Es hat auch eine lange Arbeitsdistanz, die es ermöglicht, sich genau auf Bereiche zu konzentrieren, die weiter entfernt sind. JEOL JSM 5800 LV bietet hochauflösende Bildgebung, bis zu 0,8 nm und hochauflösende analytische Daten mit einem hervorragenden Signal-Rausch-Verhältnis. Es bietet auch ein ausgezeichnetes Sichtfeld, groß genug für die Beobachtung großer Proben. Seine variable Druckkammer ermöglicht den Betrieb sowohl im Hochvakuum als auch im Niedervakuum-Modus und ist somit für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet. JSM 5800LV verfügt zudem über eine hohe Geschwindigkeit, so dass Bilder schneller verarbeitet werden können als andere SEMs. Die Daten werden typischerweise durch eine Kombination mehrerer Techniken wie sekundäre Elektronenbildgebung (SEI), rückgestreute Elektronenbildgebung (BSEI) oder Kathodolumineszenz (CL) verarbeitet. Es ist auch in der Lage, Bildnähte für größere Flächenproben. Das System ist mit einer automatisierten Navigations- und Ausrichteinheit ausgestattet, die die Probenvorbereitung schnell und einfach macht. Diese Maschine hilft auch, die Probenkontamination zu reduzieren und die genaue Positionierung der Probe zu erleichtern. Die Probe kann mit dem automatisierten Navigationsausrichtungstool gescannt und anschließend mit dem manuellen Scan-Bedienfeld die Scan-Einstellungen feinjustiert werden. JSM 5800 LV hat auch eine eingebaute Vakuumanlage, die in der Lage ist, das gewünschte Vakuumniveau zu halten. Außerdem wird das SEM-Modell auch mit einer Energie dispersive Röntgenstrahlmikroanalyse (EDXA) und eine Elektronrückstreuungsbeugung (EBSD) Ausrüstung integriert, Benutzern erlaubend, die materielle Zusammensetzung ihrer Proben im Detail zu analysieren. Insgesamt ist JSM 5800LV ein leistungsstarkes und fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Es bietet außergewöhnliche Auflösung, Geschwindigkeit und automatisierte Navigations- und Ausrichtungsfunktionen. Die integrierte energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDXA) und die EBSD-Systeme (Electron Backscatter Diffraction) eignen sich für die Materialanalyse. Es eignet sich perfekt für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen und ist ein wertvolles Werkzeug für jedes Labor.