Gebraucht JEOL JSM 5800LV #9270028 zu verkaufen

JEOL JSM 5800LV scanning electron microscope (SEM) ist ein Gerät, das zur Bildgebung und Analyse von Materialien in nanoskaliger Auflösung verwendet wird. Das Instrument nutzt die Elektronenstrahlen zur Interaktion mit der Probenoberfläche und liefert Informationen über Größe, Porosität und Morphologie des zu analysierenden Materials. Der hochauflösende einstellbare Elektronenstrahl von JEOL JSM 5800 LV ermöglicht die Abbildung kleiner Partikel und Strukturen mit mehr Klarheit und Präzision als ein Lichtmikroskop bieten kann. Das Instrument ist einfach zu bedienen und bietet eine Reihe von erweiterten Funktionen für optimale Leistung. Die vollständig einstellbare Vakuumkammer ermöglicht es Forschern, die Arbeitsumgebung für die Probenbesichtigung zu steuern. Die Vakuumkammer hilft auch, eine optimale Auflösung bei verschiedenen bildgebenden Bedingungen zu erhalten. Darüber hinaus kann die bildgebende Säule dazu verwendet werden, den Winkel des Elektronenstrahls zu verändern und Abbildungsergebnisse zu optimieren. JSM 5800LV ist mit einem hochauflösenden EDS-Detektorsystem ausgestattet, das genaue elementare Informationen liefert. Dieser hochmoderne Detektor in Kombination mit seiner Hochspannungsbeschleunigung und Präzisionssteuerung des Elektronenstrahls ermöglicht es, Bilder kleinster Teilchen und Strukturen höchster Qualität zu erhalten. Das Instrument verfügt über eine fortschrittliche Bedienoberfläche, die die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Analyse gewährleistet. Es kommt mit einer Reihe von Bildverarbeitungsoptionen, zusammen mit einer Vielzahl von automatisierten Messwerkzeugen und leistungsfähigen analytischen Paketen für weitere Analyse und Dateninterpretation. Darüber hinaus ist JEOL JSM 5800LV mit einer Reihe von Bildverarbeitungssoftware von Drittanbietern kompatibel. JSM 5800LV Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Materialien auf nanoskaliger Ebene. Sein einstellbarer Elektronenstrahl, sein fortschrittliches Elektronikdetektorsystem und seine Vielzahl an Bildverarbeitungsoptionen machen es geeignet, Bilder von kleinsten Teilchen und Strukturen in hoher Qualität in der Forschung zu erfassen. Das Gerät liefert zuverlässige Ergebnisse und ein hervorragendes Preis-Leistungs-Verhältnis für Bildungseinrichtungen und Forschungseinrichtungen.