Gebraucht JEOL JSM 5900 #9102873 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9102873
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten source
Detection modes: secondary, backscatter
Chamberscope
Resolution: 3nm @ 30kV (Se mode), 5nm @30kV (BSE mode)
5-Axis stage
Operating system: Windows 98.
JEOL JSM 5900 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Messung einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Es verwendet eine Wolfram-Filament-Elektronenkanone sowie eine Feldemissionskanone für eine ausgezeichnete Elektronensondenvergrößerung. Sein Design ermöglicht es ihm auch, Bilder in mehreren Informationskanälen mit hohen Auflösungen aufzunehmen. JEOL JSM-5900 verfügt über einen großen Arbeitsabstand von 5.000 mm und bietet die Möglichkeit, große Proben mit einem breiten Sichtfeld zu analysieren und zu analysieren. Es unterstützt einen Vergrößerungsbereich von 0,7 Nanometer bis 30 mm und ist auch in der Lage, dreidimensionale Bildgebung und quantitative Analyse durchzuführen. Darüber hinaus verbessern seine Video- und Sekundärelektronen-Bildgebungssysteme die bildgebenden Details und die Auflösung erheblich. Die Hochleistungsdetektoren des JSM 5900 ermöglichen die gleichzeitige Erfassung von Sekundär- und Rückstreuelektronen. Dies liefert überlegene topographische Details der Probe. Es verfügt auch über eine Reihe von Detektoren, wie Photomultiplier-Röhren (PMT), Kanal-Elektronen-Multiplizierer (CEM), und Energie dispersive (EDX) Systeme, die detaillierte Analysen der chemischen Zusammensetzung von Proben ermöglichen. JSM-5900 ist auch mit JEOL Observation Control Tool (JOCT) ausgestattet, das eine einfach zu bedienende Schnittstelle für erweiterte SEM-Operationen bietet. Es ermöglicht die Erfassung einer Vielzahl von Bildkanälen sowie die Verarbeitung und Analyse von Bildern und Spektren aus dem EDX/WDS-System. Darüber hinaus verfügt das System über Automatisierungsfunktionen wie automatische Ausrichtungs- und Probenfilmdickenmessungen. Insgesamt ist JEOL JSM 5900 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das optimale Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bietet. Seine benutzerfreundliche JOCT-Schnittstelle vereinfacht die Bedienung des Geräts, während seine mehreren Detektoren und automatisierten Funktionen es die optimale Wahl für hochauflösende, fortschrittliche Bildgebungsanforderungen des Labors machen.
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