Gebraucht JEOL JSM 5900LV #293600373 zu verkaufen
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ID: 293600373
Weinlese: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
PGT Avalon EDS system
XPJ081-1038 Detector
AVALON PGT Controller
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV ist ein industrietaugliches Rasterelektronenmikroskop mit modernster Elektronenoptik und ausgefeilter Bildgebungstechnologie. Seine hohe Leistung, Vielseitigkeit und umfassende Scanfunktionen machen es ideal für die Materialcharakterisierung und Bildgebung bei Nanometerauflösungen. JEOL JSM-5900LV verwendet eine Elektronensäule mit variablem Druck, um die höchste Bildauflösung und Kontrast auf einer Vielzahl von Proben zu erreichen, einschließlich nichtleitender Materialien und Metalle. Eine fortschrittliche Waffenlinse steuert die Elektronenstreuung und hilft, Strahlformen Artefakte zu minimieren. Damit liefert das Mikroskop klare, hochauflösende zweidimensionale Bilder von Objekten, die in jeder Orientierung gescannt werden. JSM 5900 LV verfügt auch über einen fortschrittlichen Kathodolumineszenzdetektor, der sichtbare und infrarote Lichtemission während des Scanvorgangs detektiert. Diese Fähigkeit bietet überlegene Empfindlichkeit, Auflösung und Erkennungsbereich, so dass der Benutzer leicht subtile elektromagnetische Antworten aus verschiedenen Materialien zu identifizieren, hilft dem Benutzer, ihre Zusammensetzung zu bestimmen. JSM 5900LV verfügt auch über einstellbare Energie dispersive Spektrometrie (EDS) Fähigkeiten, die die schnelle Identifizierung und Analyse von verschiedenen Elementen in einer Probe ermöglichen. Dieses leistungsstarke Werkzeug ermöglicht auch die energiefilterte Bildgebung sowie die analytische Bildgebung, um die Materialzusammensetzung genau zu beurteilen. Konfokale Bildgebungsoptionen sind auch mit JEOL JSM 5900 LV verfügbar, so dass verschiedene Arten von Fluoreszenzquellen, Detektoren und Techniken verwendet werden können. Schließlich ist das Mikroskop gut ausgestattet mit einem Automatisierungsmodul und einer Vielzahl weiterer Funktionen, die die analytischen Fähigkeiten des Anwenders weiter erhöhen. Zusammenfassend ist JSM-5900LV ein ideales Mikroskop für die Materialcharakterisierung und Bildgebung. Die Kombination aus fortschrittlicher Elektronenoptik und ausgefeilter Bildgebungstechnologie führt zu höchster Bildauflösung und -kontrast, während EDS und konfokale Funktionen dem Benutzer unschätzbare Daten liefern. JEOL JSM 5900LV Automatisierungsmodul und Array von anderen verbesserten Funktionen nur zu seiner Leistung und Bequemlichkeit hinzufügen.
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