Gebraucht JEOL JSM 5900LV #293665576 zu verkaufen

JEOL JSM 5900LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Abbildung von Oberflächen und anderen mikroskopischen Merkmalen mit hoher Genauigkeit und Auflösung verwendet wird. Es arbeitet mit einem fokussierten Elektronenstrahl, um die Oberfläche einer Probe zu scannen, um ein Bild zu erzeugen. Der Elektronenstrahl in JEOL JSM-5900LV wird durch einen durch eine Elektronenkanone erhitzten Wolframfaden erzeugt und dann mit elektrostatischen Linsen fokussiert. Die Elektronen werden dann auf ein hohes Energieniveau beschleunigt und unter einem Winkel zur Probe hin geleitet. Während der Strahl die Probenoberfläche abtastet, interagieren die Elektronen mit dem Material und bewirken, dass eine Kaskade von Sekundärelektronen freigesetzt wird. Diese Elektronen werden dann gesammelt und detektiert, und das resultierende Signal wird verwendet, um ein Bild der Probenoberfläche zu erzeugen. JSM 5900 LV ist in der Lage, hochauflösende Bilder bereitzustellen und ist hocheffizient bei der Sammlung von Daten im Zusammenhang mit der Topographie, elementaren Zusammensetzung und Defekten in der Probe. Es verfügt auch über ein großes Sichtfeld von bis zu 50mm, so dass große Probenflächen abgebildet werden können. JEOL JSM 5900 LV hat auch eine große Schärfentiefe, so dass es Bilder von Merkmalen in unterschiedlichen Tiefen mit einem einzigen Scan zu erfassen. Dies wird durch die Verwendung eines einstellbaren Fokus und eines Sekundärelektronendetektors ermöglicht. JSM 5900LV enthält auch eine hochmoderne Low-Vakuum-Scanning-Ausrüstung, die in der Lage ist, Proben ohne zusätzliche Beschichtung abzubilden. Dadurch wird sichergestellt, dass die erhaltenen Daten von höchster Qualität und frei von durch Beschichtungsmaterialien verursachten Artefakten sind. Das niedrige Vakuumsystem minimiert auch Probenschäden durch Elektronenbelastung, wodurch es für die Abbildung empfindlicher Proben geeignet ist. Das Instrument umfasst eine automatische Fokuskompensationseinheit, die den Fokus für verschiedene Feldtiefen einstellt, und eine automatische Bilderfassungsmaschine, die Bilder auf einer digitalen Speicherkarte speichert. Das Instrument umfasst auch ein integriertes Probenmanipulationswerkzeug, das eine präzise Probenpositionierung ermöglicht, und ein Bedienpult, das eine Steuerung des Instruments von einem entfernten Ort aus ermöglicht. Um eine optimale Leistung zu gewährleisten, verfügt JSM-5900LV über eine Reihe leistungsfähiger Softwarepakete, die für die Bildaufnahme, Bildverarbeitung, Analyse und Datenspeicherung verwendet werden können. Die Software kann an die Anforderungen des Anwenders angepasst werden und umfasst Funktionen wie Bildnähte, Linienprofilierung und Partikelgrößenanalyse. Abschließend ist JEOL JSM 5900LV ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder von Oberflächen und anderen Merkmalen mit hoher Genauigkeit und Effizienz bereitstellen kann. Die integrierte Low-Vakuum-Scan-Anlage, modernste Softwarepakete und die automatisierte Fokuskompensation und das Bilderfassungsmodell machen es zu einer idealen Wahl für eine Reihe von Anwendungen zur Bild- und Probenanalyse.