Gebraucht JEOL JSM 5900LV #9123096 zu verkaufen

JEOL JSM 5900LV ist ein industrielles Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine Vielseitigkeit und Leistung bekannt ist. Es verwendet eine dedizierte Spalte und detaillierte Bildgebungsfunktionen, um hochauflösende Bilder und Analysen von Oberflächen bis hin zum Nanoskala zu erzeugen. Mit den fortschrittlichen Fähigkeiten von JEOL JSM-5900LV können Anwender eine Reihe von bildgebenden Techniken erreichen, einschließlich Reflexionsbildgebung, rückstreuende Elektronen (BSE) -Bildgebung, sekundäre Elektronen (SE) -Bildgebung und zusammensetzungsspezifische Bildgebung. JSM 5900 LV ist mit einer Ultrahochvakuumkammer, einer vierachsigen Stufe und einer automatischen Objektivausrichtung ausgestattet, was es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen macht, einschließlich Materialanalyse, Fehleranalyse, Schaltkreisforschung und Prozesssteuerung. Die bildgebenden Funktionen von JSM-5900LV sind bemerkenswert. Durch die Kombination von Feld- und optischen Vergrößerungen kann die Auflösung für die SE-Bildgebung leicht bis zu 200 Nanometer (nm) erreichen und in der BSE-Bildgebung bis zu 400 nm auflösen. Die innovative Funktion „Auto Backscatter Imaging“ ermöglicht es Benutzern, Bilder mit großem Kontrast und Treue zu erfassen. Es verfügt auch über eine einzigartige „Voxel-Bildgebungsfähigkeit“, die bis zu drei Bilder gleichzeitig aus verschiedenen Blickwinkeln erfasst. So können Anwender schnell und präzise dreidimensionale Modelle erstellen. JEOL JSM 5900 LV verfügt auch über einen „variablen Druck“ -Modus, der es Forschern ermöglicht, Materialien mit größerer Tiefe zu untersuchen, indem Proben gescannt werden, während die Atmosphäre in der Kammer kontrolliert wird. Durch diesen Modus entfällt die Notwendigkeit einer zusätzlichen Umweltisolation und die Möglichkeit, Proben in ihrer eigenen einzigartigen Umgebung zu analysieren. Die erweiterten Analysefähigkeiten von JSM 5900LV es zu einem leistungsfähigen Werkzeug für das Studium von Proben auf der Nanoskala machen. Es bietet eine Hochleistungsbildverarbeitungsschnittstelle (HIPI) mit einer intuitiven Sensorbildschirmbenutzerschnittstelle an, Benutzern schnell erlaubend, und analysieren Sie genau Muster mit einer minimalen Lernkurve. JEOL JSM 5900LV enthält auch Softwarepakete für chemische Analyse, Partikelgrößenanalyse, Kristallstrukturanalyse, 3D-Tomographie und digitale Mikrographie. Das vielseitige und robuste Design von JEOL JSM-5900LV macht es zu einer idealen Wahl für Labore, die sich in Forschung und Entwicklung engagieren. Die Kombination aus hochauflösender Bildgebung und fortschrittlichen Analysefähigkeiten machen es zum perfekten Instrument für die Erkundung komplexer Systeme und Strukturen bis in die Nanoskala. Kurz gesagt, JSM 5900 LV ist das perfekte Werkzeug für Laborfachleute, die ein zuverlässiges, vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop suchen.