Gebraucht JEOL JSM 5900LV #9230474 zu verkaufen
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ID: 9230474
Weinlese: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX System
LINK ISIS Spectrometer 0738
7274 Detector
ATW2, 133ev, 10mm
Computer
Below the lens BSE detector
Requires LN
Cannot be converted to SDD type that does not use LN
Diffusion pump
Tungsten based system: 1 to 25 kV operating range
Objective aperture strip: 3, 20, 30, 100 um
Take off angle value: TA 35
Image detector ports: (2) Vacant ports plus the EDX
Maximum SEM resolution: 2560 x 1920
EDX resolution: 133 ev, ~1024 Pixel image resolution
No film camera
Circular port diameter: 120 mm
Optical resolution: 3.5 nm
Calibration of the gun bias is electronic
(2) PC's
(2) LCD's
(2) RP's
Transformer 100 V
Spectrometer box (same size as a PC)
Manuals
No printer
Ranges:
WD 5-40 (Limited by the under the lens BSE detector)
X and Y: Currently using 4" x 5" holder
Tilt: 90, Z: 48, X: -75 to 50mm, Y: -50 to 50 mm
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das entwickelt wurde, um hohe Bildgebungsfähigkeiten mit optimaler Auflösung und Geschwindigkeit anzubieten. Es verfügt über einen ultraschnellen, großstufigen Probenhalter mit einem Vergrößerungsbereich von 5x bis 50000x, der eine breite Palette von industriellen, biologischen und geologischen Forschungsanwendungen ermöglicht. Das Instrument ist mit den neuesten elektronenoptischen Technologien ausgestattet, mit einem erstaunlichen Maß an Stabilität und Genauigkeit. Seine Reflexionsdetektoren und digitale Bildgebung ermöglichen eine detaillierte Visualisierung von ultrafeinen Strukturen und Nanostrukturen mit einer Auflösung von bis zu 1 nm. Dieses Mikroskop ist mit einem Mehrfeldscanner-System aktiviert, das es dem Benutzer ermöglicht, mehrere Bilder gleichzeitig zu erfassen und dabei die gleiche Bildqualität beizubehalten. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM-5900LV SEM auch über eine Niedervakuum-Umweltkammer, die die Oberfläche empfindlicher Proben während des Abbildungsprozesses schont. Das Instrument ist leicht und kompakt und bietet die gleiche Leistung wie größere Modelle. Es verfügt über eine benutzerfreundliche Steuerung, die es dem Bediener ermöglicht, Halbleiterabbildungsparameter problemlos zu navigieren und einzustellen. Dazu gehört, den Winkel des Elektronenstrahls einzustellen, die Probe unter verschiedenen Winkeln zu beleuchten und Ablenk- und Beschleunigungsspannungen einzustellen. JSM 5900 LV SEM ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren und Bühnenzubehör kompatibel. Dazu gehören ein rückgestreuter Elektronendetektor, ein energiedispersiver Röntgendetektor, ein reflektierter Elektronendetektor, ein Oberflächensondendetektor und ein einstellbarer Probenhalter. Dieses Zubehör kann schnell ausgetauscht werden, um die Analysefunktionen zu erhöhen. JSM 5900LV ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop mit überlegener Bildqualität und atomarer Auflösung. Die fortschrittliche Elektronenoptik und die Niedervakuumkammer machen es perfekt für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen und eignet sich für eine breite Palette von Anwendern. Mit ergonomischem Design, benutzerfreundlicher Oberfläche und anpassbarem Zubehör ist das SEM ideal für Forscher aus den Bereichen Biomedizin, Materialwissenschaft, Nanotechnologie und anderen wissenschaftlichen Bereichen.
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