Gebraucht JEOL JSM 5910 #9362883 zu verkaufen

JEOL JSM 5910 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM). Diese Vorrichtung ist speziell für die detaillierte Abbildung von Probenoberflächen bei sehr hohen Vergrößerungen unter Hochvakuumbedingungen ausgelegt. Es verwendet eine Wolfram-Filament-Elektronenquelle, um die Verwendung sowohl eines Sekundärelektronendetektors (SED) als auch eines Rückstreuelektronendetektors (BSD) zu ermöglichen. Das SEM ist mit einer variablen Druckkammer ausgestattet, die speziell für die Niedervakuumabbildung ausgelegt ist und eine Abbildung empfindlicher, nicht leitender Materialien ermöglicht. Es beherbergt eine 5-achsige Präzisionsprobenstufe, die ein Neigungsscannen ermöglicht und die Dreh- und Translationspositionierung des Objekts über 12mm Verfahrweg ermöglicht. Diese Stufe ermöglicht auch eine automatisierte Flächen- und Zeilenabtastung. Die Elektronenquelle JSM 5910 ist in der Lage, Strahlen mit Energien bis zu 30kV und einstellbaren Strömen bis zu 8µA zu erzeugen. Strahldurchmesser auf der Probe kann so klein wie 10nm sein. Das System ist mit einem In-Objektiv-Pistolen-Detektions- und Ausrichtungssystem ausgestattet, das eine schnelle Ausrichtung der Elektronenkanone relativ zur Probe ermöglicht. Dieses SEM ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, darunter ein SE-Detektor, ein BS-Detektor, ein BSE-Detektor, ein doppelt goldbeschichteter SE-Detektor und ein super-leitender Wellenlängen-dispersiver Röntgendetektor. Diese Detektoren ermöglichen eine Vielzahl von Abbildungsmodi, einschließlich Backscatter-Bildgebung, topographische Bildgebung, konventionelle Strahlmikroanalyse und Energy Dispersive X-Ray (EDX) Spektroskopie. JEOL JSM 5910 wird mit einem benutzerfreundlichen, Windows-unterstützten Softwarepaket betrieben, das die vollständige Kontrolle über die Funktionen des SEMs bietet. Dieses Softwarepaket enthält einen Bildverarbeitungsabschnitt zur Bildverbesserung vor oder nach der Bildaufnahme. JSM 5910 ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für die hochauflösende Bildgebung und elementare Kompositionsanalyse einer Vielzahl von Materialien. Mit fortschrittlicher Elektronenoptik, Detektoren und umfassendem Softwarepaket ist JEOL JSM 5910 die ideale Wahl für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Oberflächen.