Gebraucht JEOL JSM 5910LV #9203901 zu verkaufen

JEOL JSM 5910LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, Proben mit einer maximalen Feldgröße von bis zu 220mm (8,6 Zoll) hochauflösend abzubilden. Es ist ein vielseitiges SEM, das sekundäre und rückgestreute Elektronenbildgebung (SEI und BSEI) für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet, wie Halbleiterfehleranalyse, mikroelektronische Geräteprüfung, biologische und materialwissenschaftliche Forschung und verschiedene andere bildgebende und analytische Aufgaben. JSM 5910LV ist mit einem großen Kreisfelddetektor ausgestattet, der bis zu 1,4 nm detektieren kann, was eine hervorragende Auflösung, Kontrast und Detail bei der Abbildung von Proben ermöglicht. Es kommt auch mit einer eingebauten 15kV Gasfeld Emissionskanone, die verbesserte Strahlhelligkeit und Stabilität im Vergleich zu herkömmlichen thermischen Emissionskanonen bietet. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM 5910LV über ein Zweisäulendesign mit einem dreidimensionalen Probenbewegungssystem, das eine verbesserte Auflösung, Tiefenschärfe und Feinpositionierung der Probe für die Bildgebung ermöglicht. In Bezug auf den Bildkontrast verwendet JSM 5910LV sowohl die sekundäre Elektronenbildgebung als auch die rückgestreute Elektronenbildgebung (SEI/BSEI), um die genauesten, detailliertesten Bilder einer Probe zu erhalten. Durch die Verwendung von SEI und BSEI kann der Anwender Zusammensetzung und Struktur der Probe identifizieren und Materialien verschiedener Zusammensetzungen und Dichten unterscheiden. Darüber hinaus ermöglichen die vom SEM erhaltenen kontrastreichen Bilder präzise Messungen und Analysen von Probenmerkmalen, wodurch JEOL JSM 5910LV eine ausgezeichnete Wahl für grundlegende bildgebende und fortschrittliche Forschungsanwendungen ist. JSM 5910LV kommt auch mit einer Vielzahl von fortschrittlichen analytischen Tools, wie ein EDS (Energy Dispersive Spectrometer), die für Elementaranalyse verwendet wird, und ein EDXRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence), die verwendet wird, um quantitative elementare Zusammensetzung Bilder zu erhalten. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM 5910LV über eine integrierte automatisierte Stufe, mit der sich problemlos größere Proben oder mehrere Proben nacheinander abbilden lassen. Das fortgeschrittene Stadium kann auch für verschiedene andere Aufgaben wie Stichbildgebung, Automatisierung der Datenerfassung und Analyse verwendet werden. Insgesamt ist JSM 5910LV ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analyseaufgaben mit ausgezeichneter Auflösung und Bildkontrast durchzuführen. Es ist ideal für Anwendungen wie Fehleranalyse, Halbleiterinspektion, biologische Forschung und materialwissenschaftliche Forschung. JEOL JSM 5910LV ermöglicht mit seinem fortschrittlichen Stadium und integrierten Analysewerkzeugen eine genaue, detaillierte Abbildung von Proben und bietet viele Möglichkeiten für fortgeschrittene Forschung.