Gebraucht JEOL JSM-6000 #9135789 zu verkaufen

JEOL JSM-6000 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Oberflächen mit echter Farbelementkartierung. Unter Verwendung der neuesten JEOL-Technologie bietet dieses Gerät eine Auflösung von 1,2 nm und die Fähigkeit, Proben ohne Probenvorbereitung zu betrachten und zu analysieren. Das SEM beschleunigt Elektronen auf eine hohe Energie, um einen abbildenden Elektronenstrahl zu erzeugen. Ankommende Elektronen interagieren mit Probenoberflächenmerkmalen, was zu charakteristischen Emissionen von Sekundär- und Rückstreuelektronen sowie Röntgenstrahlen führt. Diese Daten werden dann von den hochmodernen elektronischen und mechanischen Detektionssystemen der JSM-6000 erfasst. Das SEM beinhaltet einen digital gesteuerten gerasterten Elektronenstrahl, der die Probenoberfläche mit bis zu 6,2 mm/s abtastet. Dadurch kann das System hochauflösende Bilder und Spektren sowohl bei niedriger als auch bei hoher Vergrößerung von 0,2x bis 75.000x aufnehmen. Es bietet auch eine breite Palette von bildgebenden Techniken zur Charakterisierung der Oberflächenmorphologie, elementare Zusammensetzung einer Probe und Mikrostruktur. JEOL JSM-6000 bietet aufgrund seiner ultraschnellen, 16-bit ALPHA-E (Advanced Logarithmic Pixel Histogram Analysis Ergonomic) Modell CCD-Kamera eine hohe Geschwindigkeit Akquisitionsleistung. Es enthält auch einen breitflächigen Farbenergie-Filter und Atomsonden-Analysator für elementare Kartierung. Die integrierte Funktion „Virtuelle Miniaturansichten“ ermöglicht die Erstellung von bis zu vier Miniaturansichten des untersuchten Bereichs des Objekts. Darüber hinaus verfügt JSM-6000 über einen EDS-Detektor (Energy Dispersive Spectroscopy), der es dem Anwender ermöglicht, die Probenzusammensetzung zu analysieren und Mineralien und andere Bestandteile auf einer Probenoberfläche zu identifizieren. Dies macht es ideal für die Erkennung von Oberflächenfehlern und anderen Eigenschaften, sowie die Identifizierung von Ätzgruben, Korrosion oder Flocken. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte zweiachsige Goniometereinheit Winkelkorrekturen und Bewegungen zwischen 30 und 90 Grad entlang beider Achsen. JEOL JSM-6000 bietet dem Anwender eine fortschrittliche Maschine, um die physikalischen und chemischen Eigenschaften von Oberflächen zu messen und zu bestimmen. Es bietet hochauflösende Bilder und Spektren, schnelle Datenerfassung und virtuelle Miniaturbilder als einfache Referenz. Dies macht es zu einer idealen Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen.