Gebraucht JEOL JSM 6010 Plus/LA #9284891 zu verkaufen

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ID: 9284891
Scanning Electron Microscope (SEM) Main breaker: 15 AT. MP-60110LAB ULVAC G-100DB Vacuum pump Ultimate press: 6.7 x 10^-2 PA Oil capacity: 800 ml AETFL64PHOO1 Vacuum pump motor Power supply: 100 V, 50/60 Hz Pumping speed: 50 Hz 100 l/min 60 Hz 120 l/min Capacitor: Start rating: 51, 250 µF Running: 32 µF Capacitor motor thermal: 1 Phase JEC-2137 IP44 1C411 6203 / 6202 Bearing PSE IME: R/MIN: 1450, 4 Pole, 60 Hz, 100 V, 5.3 A R/MIN: 1745 X69001 Power supply: 0.4 kW, 50 Hz, 100 V, 6.1 A ULVAC OMT-100A Oil mist trap Maximum flow rate: 120 l/min MP-01060MS Tilt limitation table X/Y-Axis Z Holder: 10 mm, 32 mm, 76 mm 8 mm: 10 mm: 0-20 deg 32 mm: 0-20 deg 76 mm: 0-20 deg 10 mm: 10 mm: -2-30 deg 32 mm: -2-30 deg 76 mm: 0-20 deg 15 mm: 10 mm: -10-35 deg 32 mm: -10-35 deg 76 mm: -2-35 deg 20 mm: 10 mm. -10-35 deg 32 mm. -10-35 deg 76 mm. -10-35 deg Dial reading: -10° - 90° X-Ray microanalysis P13333B-NAV Camera DELL Optiplex 7010 CPU Tower With PXL2230MW Planar Monitor P/N: 997-7039-00 DELL KB212-2 CN-04G481-71616 43B-006U-A00 DP/ N 04G481 Keyboard DELL D PPID-CN-09RRC7-48729-45L-09FU Mouse Accessories and manuals Power supply: 100-240 V, 60/50 Hz, 0.7 A Power supply: 100 V, 12 A, 1.2 kVA, 1 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JSM 6010 Plus/LA ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Labor- und Industrieanwendungen. Das SEM arbeitet mit einer überlegenen Feldemissionskanone (FEG) als Elektronenquelle, um hochauflösende Bilder bei Vergrößerungen zwischen x10 und x600.000 mit einem Vergrößerungsbereich von x500 bis x150.000 zu erzeugen. Die Arbeitskammer ist mit einer Reihe von Zusatzgeräten ausgestattet, die eine 6-Achsen-motorisierte Probenstufe umfassen, die die Manipulation von Proben unter Vakuum ermöglicht, um eine Vielzahl von Materialien zu messen, zu überprüfen und zu analysieren. Der Rasterelektronenstrahl des JSM 6010 Plus/LA arbeitet durch schnelle Abtastung einer Probenoberfläche und Sammeln von Sekundärelektronen, die dann in eine hochwertige digitale Bildanzeige umgewandelt werden. Merkmale wie kontinuierliche Einstellung der Elektronenpunktgröße, einstellbarer Strom, Stigmation und Spannung werden mit der Niederspannungsleistung des FEG und hochenergetischen Strahlen kombiniert, um die SEM-Bildgebungsfähigkeiten zu verbessern. Die JSM 6010 Plus/LA verwendet eine breite Palette von Detektoren und Detektoren Anpassungen, so dass der Benutzer bildgebende Parameter für eine Reihe von bildgebenden Techniken zu ändern. Ein Sekundärelektronendetektor (SED) liefert ein Sekundärelektronen-Engrossment-Bild, das in der Lage ist, verschiedene Arten von Materialien zu unterscheiden. Ein analytischer Entdecker, wie die Energie dispersive Spektroskopiensystem (EDS) oder System der Wellenlänge dispersive Spektroskopie (WDS), kann angepasst werden, um Energie-Dispersive Röntgenstrahlmaße und elementare Analyse zu berücksichtigen. Die JSM 6010 Plus/LA beherbergt auch ein Sputtersystem, das eine tiefergehende Analyse überaus fragiler Proben ermöglicht und eine Fülle von Informationen über die chemische Zusammensetzung der Probe liefert. Darüber hinaus bietet die JSM 6010 Plus/LA dem Anwender mehrere Bildmanipulationsmöglichkeiten und die Möglichkeit, die Daten in verschiedenen Dateiformaten zu exportieren. Es können verschiedene Schichtbilder und Composites erstellt und die Daten zur Erzeugung von 3D-Bildern verwendet werden. Der JSM 6010 Plus/LA bietet dank seiner vielfältigen Funktionen, geringem Energiebedarf, automatischer Ausrichtung und stabiler Steuerungssoftware eine hervorragende Leistung für eine Vielzahl von Labor- und Industrieanwendungen mit einem unvergleichlichen Maß an Kontrolle, Genauigkeit und Geschwindigkeit.
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