Gebraucht JEOL JSM 6010 Plus/LA #9412718 zu verkaufen

JEOL JSM 6010 Plus/LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für detaillierte Beobachtungen einer Vielzahl von Proben von Isolatoren über Leiter bis hin zu Halbleitern entwickelt wurde. Als analytisches Instrument kann das 6010 Plus/LA Sekundärelektronen oder Röntgenstrahlen für die chemische und Kristallstrukturanalyse messen. Darüber hinaus ermöglicht die beeindruckende Beschleunigungsspannung von 30kV die Beobachtung von Merkmalen und feinen Details mit größerer Auflösung. Der JSM 6010 Plus/LA enthält eine Reihe überlegener Funktionen, einschließlich eines verbesserten Oxford EDS-Detektors, der die Empfindlichkeit erhöht und Elemente bis U und Pb erkennen kann. Sein hoher Arbeitszyklus ermöglicht es, Proben schnell und genauer zu analysieren. Der im SEM eingesetzte ausgeklügelte Spannungsregler kann die Nadeldruckregelung der Säule innerhalb von 1 µm halten. Das fortschrittliche elektronische System des 6010 Plus/LA ist in der Lage, das Mikroskop unbegrenzt zu betreiben. Dies macht es eine gute Wahl für den Dauerbetrieb oder für häufige An-/Abschaltvorgänge. Das 6010 Plus/LA kommt mit einer Auswahl von drei Objektiven mit jeweils eigenen Fähigkeiten und Auflösung. Ein 0,5mm Objektiv bietet eine maximale Auflösung von 3 Nanometern und ein 15mm Sichtfeld, während das 0,3mm Objektiv eine maximale Auflösung von 0,8 Nanometern und ein beeindruckendes 5,2mm Sichtfeld ermöglicht. Das 0,1-mm-Objektiv ist ideal für Anwendungen, die höchste Auflösungen erfordern, mit einer maximalen Auflösung von 0,3 nm und einem Sichtfeld von 1 mm. Das ergonomische Design des 6010 Plus/LA beinhaltet die vollständige manuelle Steuerung aller Funktionen, was eine höhere Präzision bei der Arbeit mit größeren Proben oder bei der Recherche und Analyse ermöglicht. Darüber hinaus verfügt der JSM 6010 Plus/LA über eine einfach zu bedienende Bühne, die eine manuelle Bewegung basierend auf der X-Y-Übersetzung, der doppelten Neigung und der erweiterten Fokusebene ermöglicht. Mit einem leicht lesbaren 7-Zoll-LCD-Farbmonitor können Benutzer Bilder in hoher Auflösung oder mit Live-Vergrößerung anzeigen, um eine schnellere und genauere Probenmanipulation zu ermöglichen. Abschließend stellt JEOL JSM 6010 Plus/LA die Spitzenkante in der Rasterelektronenmikrokopie dar und bietet eine leistungsstarke Reihe von Funktionen, die es für eine Vielzahl von Forschungs- und Analyseanwendungen perfekt machen. Mit seiner fortschrittlichen Optik, Hochspannungsfähigkeit und dem integrierten Oxford EDS-Detektor ist der 6010 Plus/LA eine gute Wahl für Benutzer von ultrahochauflösenden Rasterelektronenmikroskopen.