Gebraucht JEOL JSM 6010 Plus/LV #9233065 zu verkaufen

JEOL JSM 6010 Plus/LV ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in verschiedenen wissenschaftlichen Umgebungen entwickelt wurde. Die Säulenausrüstung bietet eine hervorragende elektronenoptische Leistung und eine optimierte Auflösung von 3 nm. Das Instrument verfügt über eine große, erweiterte Probenkammer, die Proben von bis zu 100 mm an allen Seiten aufnehmen kann. Es ist mit einer Hochleistungselektronenquelle und einem Probenverschiebungssystem ausgestattet, das eine präzise Manipulation und Abbildung größerer Proben ermöglicht. Die vielseitigen bildgebenden Funktionen von JEOL JSM 6010 Plus/LV ermöglichen die Beobachtung topographischer und elementarer Merkmale. Das Gerät ist mit einer drehbaren LED-Beleuchtungsmaschine ausgestattet, die eine Vielzahl von Detektoren, einschließlich Sekundär- und Rückstreuungsdetektoren, für eine verbesserte Bildqualität bereitstellen kann. Zur Unterstützung der Vergrößerungsleistung des Elektronenmikroskops kann der einfallende Strahl auf eine Vielzahl von Vergrößerungen eingestellt werden. Dies wird mit einer beweglichen optischen Zugangseinheit erreicht, die einen Vergrößerungsbereich von 30x bis 250.000x bereitstellen kann. Der JSM 6010 Plus/LV bietet nicht nur bildgebende Funktionen, sondern verfügt auch über eine Reihe von Datenerfassungsfunktionen, wie mehrfach ausgezeichnete Funktionen für lange Scans und Rekonstruktionen mit gescanntem Bild (SIR). Diese Scanmodi verbessern die Geschwindigkeit und Genauigkeit von Bildgebungsprozessen erheblich. Die hochauflösenden Abbildungsmöglichkeiten des Instruments werden mit Unterstützung eines X-Ray Linescanner (XLS) Tools weiter verbessert. Dies ermöglicht es Benutzern, Röntgenintensitätsvariationen für topographische und elementare Bildgebung zu beobachten. Die benutzerfreundlichen Produktionsmöglichkeiten des JSM 6010 Plus/LV ermöglichen eine effiziente Produktion von Daten und Bildern. Durch ein einfaches Touchscreen-Display können die Einstellungen angepasst werden, um die Auflösung zu maximieren, und die integrierten Funktionen AutoScan und Zoom Scan ermöglichen einen verbesserten Workflow. Darüber hinaus ist das Asset in der Lage, Daten über mehrere Schnittstellen zu speichern und zu übertragen, wodurch eine effiziente Speicherung und gemeinsame Nutzung großer Datenmengen gewährleistet ist. JEOL JSM 6010 Plus/LV ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung, vielseitiger Datenerfassung und einfachen Produktionsmöglichkeiten. Diese Eigenschaften machen es zu einem idealen Instrument für eine Reihe von wissenschaftlichen Umgebungen, einschließlich Bildungs-, Forschung und industrielle Anwendungen.