Gebraucht JEOL JSM 6010LA #293635747 zu verkaufen

JEOL JSM 6010LA ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um die Leistung von Elektronen in einer Reihe wissenschaftlicher Studien zu nutzen. Dieses Gerät ist mit einem Lichtfeld-Rasterelektronenmikroskop mit einer Elektronenkanone vom Typ Thermo- und Feldemission, einem Sekundärelektronendetektor (SED), einem energiedispersiven Röntgenspektrometer und einem wellenlängendispersiven Röntgenspektrometer für die Elementaranalyse ausgestattet. Es kann hochauflösende Bildgebung, Röntgenmapping und Analyse der Proben Topographie und Zusammensetzung. JSM 6010LA hat die Fähigkeit, Niederspannungsbeobachtung bereitzustellen und leicht zwischen Betriebsarten der Nieder- und Mittelspannungsbildgebung und Analyse zu wechseln. Das Gerät ist mit einem automatisierten Gerät ausgestattet, das die Probenausrichtung für eine schnelle, einfache und genaue Bedienung und eine Stufenhöhenkontrolle steuert, die die Probenausrichtung und die Höheneinstellung erleichtert. Weitere benutzerfreundliche Funktionen umfassen mehrere automatisierte Zählsysteme, automatische Segmentierung von Probenbildern und automatisches Scannen mehrerer Proben gleichzeitig. JEOL JSM 6010LA verwendet einen Silizium-Drift-Detektor (SDD), der eine hochauflösende Bildgebung und Röntgenabbildung bei mehreren kV und Auflösungen ermöglicht. Es ist auch in der Lage, Multimode-Bildgebungs- und Analysefunktionen einschließlich Backscattered Electron (BSE) -Mapping und Tiefenbildgebung zu erzeugen. JSM 6010LA ist mit einem integrierten Niedervakuumsystem und einem hochempfindlichen SED ausgestattet, das sowohl bei niedrigen als auch bei mittleren Spannungen betrieben werden kann und bessere Ergebnisse als herkömmliche SEMs liefert. Darüber hinaus ist dieses SEM mit einer Elektronenstrahl-Mikrosondeneinheit (EBMP) ausgestattet, die ein für die quantitative Analyse der Probe erforderliches Rasterelektronenspektrometer bereitstellt. Mit dieser Maschine kann die elementare Zusammensetzung der Probe mittels Energy Dispersive Analysis (EDX) mit hoher Empfindlichkeit und geringer Drift abgebildet werden. Der EBMP wird mit einer integrierten Lichtfeld-Betrachtungsoption geliefert, die die Anzeige von Objektmerkmalen und Eigenschaften in Kristallstruktur, Korngröße und Form ermöglicht. JEOL JSM 6010LA ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, hochauflösende Bildgebung, Röntgenmapping und -analyse und Elementaranalyse für eine Reihe von wissenschaftlichen Studien zu erzeugen. Das Angebot an automatisierten und benutzerfreundlichen Funktionen macht es zu einem attraktiven Gerät für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.