Gebraucht JEOL JSM 6010LA #9080849 zu verkaufen

JEOL JSM 6010LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Anwendungen entwickelt wurde. Das Rasterelektronenmikroskop ermöglicht es Benutzern, zweidimensionale Bilder der äußeren Oberflächen ihrer Probe zu bilden. Es wird häufig für detaillierte Oberflächen- und topographische Studien verwendet. Dieses Modell verwendet eine einzigartige Doppelstrahl-Technologie, die eine beschleunigte Elektronenkanone und einen monochromierten Detektor kombiniert, um sowohl eine routinemäßige Mikroanalyse als auch eine Halbleiterfehleranalyse zu ermöglichen. Die hohe Auflösung und der hohe Durchsatz des Instruments machen es ideal für die Analyse einer breiten Palette von nanoskaligen Materialien und Objekten. Die scannende Hochleistungselektronmicrography von JSM 6010LA bietet ausgezeichnete Bildaufbereitungsfähigkeiten. Das Instrument hat eine Auflösung von 1 nm für Sekundärelektronen und 0,25 nm für rückgestreute Elektronen. Die analytischen Fähigkeiten von JEOL JSM 6010LA sind umfassend. Das Gerät verfügt über ein energiedispersives Röntgenspektrometer zur Elementaranalyse von Proben und eine Feldemissionskanone zur Tiefenprofilierung. Das spektroskopische Merkmal kann verwendet werden, um Röntgenlinienenergie mit einer Genauigkeit von 0,5 eV zu messen. Die energiedispersive Röntgenspektralquantifizierung bietet eine präparationsfreie Spurenelementanalyse bis zum ppm-Pegel ohne Probenvorbereitung. JSM 6010LA verfügt auch über ein in situ nanomechanisches Testwerkzeug, das Studien über die Eigenschaften von Probenoberflächen von elastischer bis plastischer mechanischer Verformung ermöglicht. Dieses Werkzeug dient zur Analyse der Bruchflächen von Materialien, die einer Bruchprüfung unterzogen werden. Um die Bedienung und Automatisierung zu erleichtern, verfügt JEOL JSM 6010LA über mehrere erweiterte Funktionen. Es ist mit einer automatisierten Bühnensteuerung und einer motorisierten SEM-Säule mit einem automatisierten, selbsthemmenden System zur Aufrechterhaltung der Probenposition ausgestattet. Es besitzt auch einen flüssigen Stickstoffkondensator, mit dem Probenhalter variabler Höhe gehandhabt werden können. Insgesamt ist JSM 6010LA ein genaues, zuverlässiges und effizientes Rasterelektronenmikroskop, das für fortgeschrittene Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Dank seiner hervorragenden Bildgebung und hochauflösenden Funktionen ist es ein ausgezeichnetes Werkzeug für eine Vielzahl von Studien.