Gebraucht JEOL JSM 6010LA #9220325 zu verkaufen

JEOL JSM 6010LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die mikrostrukturelle Analyse fester Proben entwickelt wurde. Es erzeugt hochauflösende Bilder, indem es einen fokussierten Elektronenstrahl über die Probenoberfläche abtastet und gleichzeitig Sekundärelektronen aus der Probenwechselwirkung sammelt. Das 6010LA verfügt über eine neu entwickelte obere Kammer, in der eine Elektronenquelle für Kaltfeld-Emissionskanonen (CFEG) und einer von bis zu drei Detektoren untergebracht sind. Dies schafft eine geräumige Arbeitsumgebung, auf die schnell und sicher zugegriffen werden kann, so dass die Anlage eine Vielzahl von komplizierten Techniken durchführen kann. JSM 6010LA verwendet einen Sekundärelektronendetektor mit variablem Druck, der eine Abbildung bei niedrigem Druck mit stark reduzierter Aufladung sowie ultratiefer Bildgebung ermöglicht. Dieses SEM ist auch in der Lage, eine breite Palette von oberflächentopographischen Messungen mit einem Verfahren zu erhalten, das als „Profilerkennung“ bezeichnet wird und schnell 3D-Bilder erzeugt. Neben dieser Funktion bietet es auch eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen, wie Röntgenanalysen mit einem separaten System, so dass der Benutzer sowohl elementare als auch strukturelle Informationen aus demselben SEM erhalten kann. JEOL JSM 6010LA wurde entwickelt, um höchste Scanauflösung und -genauigkeit zu gewährleisten. Sein In-Column-Energiefilter erzeugt eine dramatisch bessere Auflösung als herkömmliche Systeme, was zu hervorragenden Details und Kontrasten führt. Neben fortschrittlichen bildgebenden Funktionen ist dieses SEM ideal für die hochgenaue chemische und elementare Analyse. Es liefert einzigartige elementare Verteilungsbilder mit hoher Empfindlichkeit und Genauigkeit aufgrund seines hochmodernen Energiefilters für die Röntgenmikroanalyse. Schließlich bietet JSM 6010LA ein ergonomisches Design, mit seiner benutzerfreundlichen Oberfläche für eine einfache Bedienung. Die intuitive Software setzt automatisch die optimalen Instrumentenparameter und optimiert die Produktivität weiter. Darüber hinaus stehen eine Vielzahl zusätzlicher Hardwareoptionen zur Verfügung, wie eine Kryo-Stufe für Tieftemperaturbeobachtungen, um die 6010LA vielseitiger zu gestalten und das Benutzererlebnis zu verbessern. Mit all diesen Funktionen kombiniert, JEOL JSM 6010LA ist die beste Wahl für jede mikrostrukturelle Analyse Anwendungen.