Gebraucht JEOL JSM 6060LV #9314363 zu verkaufen

JEOL JSM 6060LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in komplexen Forschungsarbeiten entwickelt wurde. Es hat eine hervorragende Auflösung und kann Proben auf eine Auflösung von einem Nanometer genau abbilden. Als Rasterelektronenmikroskop untersucht es mit einem fokussierten Elektronenstrahl die Oberflächenmorphologie einer Probe. Die Elektronen interagieren mit der Probe und erzeugen deutliche Signale, die dann vom Mikroskop verarbeitet und analysiert werden. Diese Art von Mikroskop bietet eine Reihe von Funktionen und Fähigkeiten, wie Mapping von Probenelementen, sowie Betrieb in Hochvakuum, Niedervakuum oder Umgebungsmodi. Einer der Hauptvorteile von JEOL JSM 6060 LV ist seine optische Leistung. Seine Leistung kann als hervorragend in Bezug auf Auflösung und Kontrastauflösung beschrieben werden, so dass es ideal für die Bildgebung und Analyse von winzigen Partikeln und Merkmalen. Das Mikroskop kann Bilder mit höchster Auflösung erzeugen. Es verfügt auch über eine breite Palette von Detektoroptionen, die eine Vielzahl von Experimenten ermöglichen. Die hochauflösende 1-Nanometer-Auflösung macht es auch sehr effektiv für die Abbildung kleiner Proben, mit der Fähigkeit, präzise Messungen und Messungen von relativen Dichten und Größen zu machen. Für Anwender, die eine höhere Präzision benötigen, verfügt JSM 6060LV über ein digitales Videosystem mit 5 nm Auflösung, das die höchste verfügbare Auflösung bietet. Die Leistung von JSM 6060 LV wird auch durch seine fortschrittliche Bildgebungssoftware verbessert. Die Software bietet leistungsstarke Bildverarbeitungsfunktionen, die das Anwenden von Filtern, Messungen und quantitative Analysen ermöglichen. Das Mikroskop bietet auch eine Reihe von Optionen für die Bildgebung durch die automatische Erfassung mehrerer Bilder und Kombinieren sie zu höherauflösenden Bildern. JEOL JSM 6060LV ist auch ein leistungsfähiges analytisches SEM mit hervorragenden Elementaranalysefähigkeiten. Der mitgelieferte MINT-Modus (Scanning Transmission Electron Microscopy) ermöglicht Analysen mit energiedispersiver Spektroskopie oder Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Außerdem ermöglicht der eingebaute Energiefilter die Detektion von Lichtelementen und Elementanalysen bis zu wenigen Teilen pro Million. Abschließend ist JEOL JSM 6060 LV ein leistungsstarkes SEM mit hervorragenden Fähigkeiten. Es hat eine hervorragende Auflösung und Bildqualität und eine breite Palette von bildgebenden Anwendungen. Seine Präzision und analytischen Fähigkeiten machen es ideal für jede Forschungsumgebung. Die benutzerfreundliche Oberfläche, fortschrittliche Bildgebungssoftware und verschiedene Detektoroptionen machen JSM 6060LV zu einer ausgezeichneten Wahl für die Bildgebung und Analyse komplexer Proben.